X熒光光譜分析儀iEDX-150WT（鍍層測(cè)厚儀）
詳情介紹
一、產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型： X熒光光譜儀
產(chǎn)品名稱： 鍍層測(cè)厚儀 (可選配鍍液檢測(cè)，RoHS檢測(cè)，合金分析功能）
型 號(hào)： iEDX-150WT
生 產(chǎn) 商： 韓國(guó)ISP公司
二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. 鍍層檢測(cè)，多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層。
2. 對(duì)于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準(zhǔn)確分析0.2-0.5uin的金層。
3. 可同時(shí)進(jìn)行選配RoHS檢測(cè)功能，精確的測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測(cè)試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。
4. 可同時(shí)進(jìn)行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內(nèi)金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，
5. 可同時(shí)進(jìn)行選配合金成分分析功能。
6. 開槽式超大可移動(dòng)全自動(dòng)樣品平臺(tái)610*525 (長(zhǎng)*寬)，樣品移動(dòng)距離可達(dá)112*2X5mm(長(zhǎng)*寬*高) ；專為線路板行業(yè)研制。
7. 激光定位，可以連續(xù)自動(dòng)多點(diǎn)程控測(cè)量；
8. 可以選配多準(zhǔn)直器系統(tǒng)，單準(zhǔn)直器/6個(gè)準(zhǔn)直器/7個(gè)準(zhǔn)直器。
9. 可檢測(cè)固體、液體、粉末狀態(tài)材料；
10. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低；
11. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析；
12. 操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測(cè)結(jié)果（20-40秒）；
13. 標(biāo)配德國(guó)AmptekSI-Pin 探測(cè)器，選配高精度硅漂移SDD探測(cè)器，保證測(cè)試精度。
14. 軟件支持無標(biāo)樣分析。
15. 相對(duì)于傳統(tǒng)鍍層，開機(jī)不需要預(yù)熱，可以可以測(cè)量，測(cè)量后可以直接關(guān)機(jī)，節(jié)約用電，減少關(guān)鍵部件（X射線管，高壓等）消耗，并減少了等待時(shí)間。
三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
| 標(biāo)配 | 選配 |
X射線管 | 高穩(wěn)定性X光管，使用壽命長(zhǎng)（工作時(shí)間>15,000小時(shí)）。 MO (鉬)靶，鈹窗口， 光斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。 50kV，1mA，高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。 | 高穩(wěn)定性微焦點(diǎn)X光管，使用壽命（工作時(shí)間>15,000小時(shí)）。 MO (鉬)靶，鈹窗口， 光斑尺寸50um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。 50kV，1mA，高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。 |
平臺(tái) | 固定平臺(tái) | 軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。激光定位、簡(jiǎn)易荷載大負(fù)載量為5公斤，控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)量。 平臺(tái)尺寸：610*525mm (長(zhǎng)*寬*高) 樣品移動(dòng)距離：112*2 X5 mm(X*Y*Z) |
準(zhǔn)直器 | 單準(zhǔn)直器系統(tǒng) 0.2/0.3MM選1個(gè) | 0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7種準(zhǔn)直器規(guī)格可選,客戶可多選7種準(zhǔn)直器尺寸，可定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。 |
探測(cè)器 | 半導(dǎo)體Si-PIN 探測(cè)器，分辨率159eV， | 高分辨率硅漂移SDD探測(cè)器，分辨率可達(dá)到125eV. |
濾光片 | 初級(jí)濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換 | / |
樣品定位 | 顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能 | / |
視頻系統(tǒng) | 高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)。 觀察范圍：3mm x 3mm。 放大倍數(shù)：40X。 | / |
附件 | 含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo) | / |
軟件 | 標(biāo)配Multi-Ray鍍層分析軟件 | 1、選配ROHS分析軟件 2、選配合金分析軟件 3、選配藥水分析軟件 |
檢測(cè)元素范圍 | Al (13) ~ U(92) | / |
分析樣品類型 | 液體/固體/粉末 | / |
四、iEDX-150WT型號(hào)光譜儀軟件功能
1) 軟件應(yīng)用
- 單鍍層測(cè)量
- 線性層測(cè)量，如：薄膜測(cè)量
- 雙鍍層測(cè)量
- 針對(duì)合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測(cè)量。
- 無電鍍鎳測(cè)量
- 電鍍?nèi)芤簻y(cè)量
- 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 勵(lì)磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測(cè)量
2) 軟件標(biāo)定
- 自動(dòng)標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析
- 使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計(jì)算方法
- 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定
- 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動(dòng)調(diào)整功能
3) 軟件校正功能：
- 基點(diǎn)校正（基線本底校正）
- 多材料基點(diǎn)校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等
- 密度校正
4) 軟件測(cè)量功能：
- 快速開始測(cè)量
- 快速測(cè)量過程
- 自動(dòng)測(cè)量條件設(shè)定（光管電流，濾光片，ROI）
5) 自動(dòng)測(cè)量功能（軟件平臺(tái)）
- 同模式重復(fù)功能（可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)檢測(cè)）
- 確認(rèn)測(cè)量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測(cè)量開始點(diǎn)設(shè)定功能（每個(gè)文件中存儲(chǔ)原始數(shù)據(jù)）
- 測(cè)量開始點(diǎn)存儲(chǔ)功能、打印數(shù)據(jù)
- 旋轉(zhuǎn)校正功能
- TSP應(yīng)用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測(cè)量功能
- 定性分析功能 （KLM 標(biāo)記方法）
- 每個(gè)能量/通道元素ROI光標(biāo)
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能：兩級(jí)顯示/疊加顯示/減法
- 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能（強(qiáng)度、能量）
7） 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測(cè)統(tǒng)計(jì)值： 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 大值。
- 小值、測(cè)量范圍，N 編號(hào)、 Cp、 Cpk，
- 獨(dú)立曲線顯示測(cè)量結(jié)果。
- 自動(dòng)優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8）其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨(dú)立操作控制平臺(tái)
- 視頻參數(shù)調(diào)整
- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接
- Multi-Ray、Smart-Ray自動(dòng)輸出檢測(cè)報(bào)告（HTML，Excel）
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫檢查程序
- 鍍層厚度測(cè)量程序保護(hù)。
9） 儀器維修和調(diào)整功能
- 自動(dòng)校準(zhǔn)功能；
- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境；
- 自動(dòng)校準(zhǔn)過程中值增加、偏置量、強(qiáng)度、探測(cè)器分辨率，迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線強(qiáng)度、輸入電壓、操作環(huán)境。
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