LED壽命測(cè)試系統(tǒng)
針對(duì)LED進(jìn)行壽命測(cè)試,設(shè)備硬件依據(jù)LM-80標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法開發(fā)設(shè)計(jì),*符合LM-80測(cè)試要求。該系統(tǒng)可精確設(shè)定高低溫環(huán)境,使LED暴露在高溫環(huán)境下,同時(shí)又精確控制LED結(jié)溫,使LED在高溫條件下老化,加速其光度衰減。并可根據(jù)不同時(shí)間節(jié)點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),推算出LED的壽命。系統(tǒng)設(shè)計(jì)極為人性化,LED老化設(shè)備方便與積分球系統(tǒng)對(duì)接測(cè)量,有效的提高測(cè)量效率。
案例
? 東莞質(zhì)檢
? 常州質(zhì)檢