Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡
高級檢測技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內(nèi) FEI Trinity™ 檢測技術(shù)能夠同時收集所有信號，既節(jié)省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據(jù)信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。
Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡
FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學(xué)院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級研究與分析。
高級檢測技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內(nèi) FEI Trinity™ 檢測技術(shù)能夠同時收集所有信號，既節(jié)省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據(jù)信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。EI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學(xué)院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級研究與分析。
高級檢測技術(shù)是 FEI Scios 的核心技術(shù)。透鏡內(nèi) FEI Trinity™ 檢測技術(shù)能夠同時收集所有信號，既節(jié)省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據(jù)信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。
Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡
Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復(fù)合物和涂層等眾多材料，能夠：
執(zhí)行高分辨率、高對比度成像，對磁性樣本也不例外
使用*的 Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態(tài)和邊緣對比度，從而分析材料的全部屬性
借助漂移抑制光刻，無需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片，甚至可以對非導(dǎo)電材料進行操作
生成三維數(shù)據(jù)立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布，或?qū)α鸭y各個方向的應(yīng)力和應(yīng)變進行分析
搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制備高質(zhì)量樣本，而且只需小的電子束能量即可獲得質(zhì)量的 S/TEM 結(jié)果
針對 DealBeam TM 常見應(yīng)用提供*的“用戶指南”和逐步工作流，使得任何經(jīng)驗水平的操作員都能即刻上手
Scios 的生命科學(xué)應(yīng)用
有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應(yīng)用且不會降低對比度和分辨率的多功能設(shè)備。FEI Scios 是一款特別易于使用且能力極其出眾的儀器，能使您的眾多不同應(yīng)用和工作流更具靈活性，功能更強大，而且借助高效和增值工作流， Scios 能讓您在短時間內(nèi)獲得極為準(zhǔn)確的結(jié)果
Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復(fù)合物和涂層等眾多材料，能夠：
執(zhí)行高分辨率、高對比度成像，對磁性樣本也不例外
使用*的 Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態(tài)和邊緣對比度，從而分析材料的全部屬性
借助漂移抑制光刻，無需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片，甚至可以對非導(dǎo)電材料進行操作
生成三維數(shù)據(jù)立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布，或?qū)α鸭y各個方向的應(yīng)力和應(yīng)變進行分析
搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制備高質(zhì)量樣本，而且只需小的電子束能量即可獲得質(zhì)量的 S/TEM 結(jié)果
針對 DealBeam TM 常見應(yīng)用提供*的“用戶指南”和逐步工作流，使得任何經(jīng)驗水平的操作員都能即刻上手
