Naneos Partector TEM納米粒子顆粒采樣器是簡單性與強大功能之間的完美結(jié)合：您可以將其用作簡單的調(diào)查工具，以快速識別工作場所中的納米顆粒來源。您也可以使用它直接將顆粒采樣到標(biāo)準(zhǔn)透射電子顯微鏡（TEM）網(wǎng)格中。當(dāng)涉及單顆粒分析時，TEM是強大的分析技術(shù)。如果您擁有諸如TEM / SEM顯微鏡之類的輔助工具以進一步查看粒度分布和顆粒形態(tài)以及/或用于分析被顆粒化學(xué)成分的分析儀器，那么Partector TEM將發(fā)揮大的作用。
Naneos Partector TEM納米粒子顆粒采樣器?可讓您使用一臺儀器全面評估工作場所安全。Partector TEM采樣器是*可以在線確定樣品覆蓋率并在達到Z佳覆蓋率時停止采樣的納米顆粒采樣器。它是一種綜合測量，允許首*行測量，然后僅在必要時進行采樣。由于TEM沉積機制是由檢測到的濃度控制和監(jiān)視的，因此您再也不會有空的或超載的樣品。利用Goog個 Earth Java工具，它可以顯示在哪里測量濃度。
特點：
- LDSA濃度范圍：0-20,000 µm² /cm³
- 1秒的高時間分辨率（根據(jù)要求更快）
- 粒徑范圍廣，從10 nm到10 µm
- 設(shè)備尺寸：142x78x2??9mm-可以放入典型的襯衫口袋
- 重量：430克
- 流量：0.45 lpm
- 在標(biāo)準(zhǔn)3.05mm TEM網(wǎng)格上靜電沉積顆粒
- 采樣效率：50nm時約為3％
- 6個可更換網(wǎng)格架
- 自動確定觜佳采樣時間，當(dāng)網(wǎng)格具有觜佳覆蓋范圍時，設(shè)備停止采樣
- 內(nèi)部可充電鋰離子電池，運行時間通常為10小時
- 數(shù)據(jù)存儲在µSD卡上（足夠用于多年數(shù)據(jù)存儲）
- 圖形顯示
- 高濃度警報，閾值可調(diào)
- 包括可在所有主要操作系統(tǒng)上運行的Java數(shù)據(jù)分析工具
優(yōu)勢：
- 微型輕巧
- 易于使用的按鈕采樣
- TEM網(wǎng)格可通過6個網(wǎng)格支架輕松在現(xiàn)場更換
- 自動確定Z 佳采樣時間-因為它可以測量納米顆粒的濃度，所以它知道何時停止采樣。
- 在線顯示當(dāng)前樣本覆蓋率
- 谷個Earth Java工具可顯示在何處測量濃度
應(yīng)用：
- 氣溶膠研究
- 過濾器測試
- 環(huán)境與氣候研究
- 環(huán)境監(jiān)控
- 室內(nèi)和工作場所空氣質(zhì)量測量
- 個人曝光
