E3是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),專門用于鍍層厚度檢測;其核心部件采用美國進口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構(gòu)報告;精密度、準確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器,特別針對大件異形不平整樣品,無需拆分,直接測試即可達到精確的測試效果。
1.1全自動三維樣品臺
1.2 X射線向下照射式,激光對焦
1.3小光斑設計
1.4測試時間靈活性調(diào)節(jié)
三維定位鍍層測厚儀器
1.5多規(guī)格樣品倉
三維定位鍍層測厚儀器
1.6 X-Ray探測器
HeLeeX E3-3D采用美國原裝全進口一體式X-123半導體X射線探測器,其*的半導體制冷技術(shù),高峰背比(信噪比),超高計數(shù)率,*的分辨率和穩(wěn)定性以及高集成化等特點,超越其他品牌或同品牌的組裝探測器。..........................................................................................................................................................................