絕緣紙介電常數(shù)測試儀主要技術(shù)特性：
*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
3．Q值測量范圍：1～1023
4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
*5．電感測量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
1、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的兩種測定方法。方法A為工頻（50Hz）下的測定方法，方法B為高頻電場下的測定方法。絕緣紙介電常數(shù)測試儀
本標(biāo)準(zhǔn)適用于硫化橡膠。絕緣紙介電常數(shù)測試儀
2、規(guī)范性引用文件：
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 2941 橡膠物理試驗(yàn)方法試樣制備和調(diào)節(jié)通用程序（GB/T 2941-2006，ISO 23529：2004，IDT）
3、術(shù)語和定義：
下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
3.1
介質(zhì)損耗 dielectric loss
絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。
3.2
損耗角 δloss angleδ
在交變電場下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數(shù)角φ）的余角（δ）。
3.3
損耗角正切 tanδ loss tangentδ
介質(zhì)損耗因數(shù) dielectric loss factor
介質(zhì)損耗角正切值。
3.4
介電常數(shù) εdielectric constant
絕緣材料在電場作用下產(chǎn)生極化，電容器極板間有電介質(zhì)存在時的電容量C、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C0之比。
注：不同試樣、不同電極的真空電容和邊緣校正的計(jì)算參見附錄A。
4、測試電極：
4.1 電極材料
見表1。
表 1 電極材料
電極材料 | 規(guī)格要求 | 適應(yīng)范圍 |
鋁箔和錫箔 | 鋁箔和錫箔應(yīng)退火，厚度為0.01mm左右，用凡士林、變壓器油、硅油或其他合適油作為粘接劑 | 接觸電極用 |
導(dǎo)電橡膠 | 體積電阻系數(shù)不大于300Ω·cm（交流），邵爾A硬度為40～60，表面應(yīng)光滑 | 接觸電極用 |
銅 | 表面可鍍防腐蝕的金屬層，但鍍層應(yīng)均勻*，工作面粗糙度Ra值應(yīng)不低于3.2 | 一般做輔助電極用，對軟質(zhì)膠可直接作接觸電極用 |
導(dǎo)電粉末 | 石墨粉，銀粉，銅粉等 | 管狀試樣內(nèi)電極用 |
4.2 電極尺寸
4.2.1 板狀試樣電極
4.2.1.1 方法A：板狀電極尺寸見表2，電極如圖1所示。
表 2 板狀試樣電極尺寸 單位為毫米
D1 | D2 | D3 | D4 | H1 | H2 |
25.0±0.1 | 29.0±0.1 | 40 | ≥40 | 30 | 5 |
50.0±0.1 | 54.0±0.1 | 74 | ≥74 |
1——測量電極；
2——保護(hù)電源；
3——試樣；
4——高壓電極。
圖 1 板狀試樣電極配置（工頻）
4.2.1.2 方法B：采用二電極系統(tǒng)。電極尺寸大小與試樣尺寸相等，或電極小于試樣尺寸。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm。
4.2.2 管狀試樣電極
4.2.2.1 方法A：管狀試樣電極尺寸見表3，電極如圖2所示。
表 3 管狀試樣電極尺寸
L1 | L2 | L3 | g |
25 | 5 | ≥40 | 2.0±0.1 |
50 | 10 | ≥74 |
1——保護(hù)電極；
2——測量電極；
3——高壓電極；
4——試樣。
圖 2 管狀試樣電極配置（工頻）
4.2.2.2 方法B：管狀試樣電極尺寸，電極如圖3所示。
管狀試樣的電極長度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm。
1——試樣；
2——上電極；
3——下電極。
圖 3 管狀試樣電極配置（高頻）
4.3 電極裝置
在進(jìn)行高頻測試時，根據(jù)測試頻率與測試要求可用支架電極（如圖4），當(dāng)頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時，宜用測微電極（如圖5）；當(dāng)頻率大于或等于10MHz時，應(yīng)用測微電極。
1——上蓋螺釘；
2——上蓋板；
3——升降螺桿；
4——上電極導(dǎo)軌；
5——螺帽；
6——導(dǎo)筒；
7——導(dǎo)槽螺釘；
8——絕緣桿；
9——高壓電極；
10——試樣；
11——測量電極；
12——保護(hù)電極；
13——絕緣板（聚四氟乙烯板）；
14——絕緣支腳；
15——有機(jī)玻璃板。
圖 4 支架電極
1——微調(diào)管形電容器；
2——測試樣品電容器；
3——上支撐板；
4——上電極；
5——試樣；
6——下電極；
7——底板。
圖 5 測微電極
5、測試儀器：
5.1 方法A
5.1.1 測試儀器為工頻高壓電橋，其原理圖如圖6所示。
T 試驗(yàn)變壓器；
C3 標(biāo)準(zhǔn)電容器；
C5 試樣；
R3 可變電阻；
C2、C4 可變電容；
R4 固定電阻；
G- 電橋平衡指示器；
P 放電器。
圖 6 工頻高壓電橋原理圖
5.1.2 測量范圍
損耗角正切（tanδ）：0.001～1；電容（C）：40pF～2000pF。
5.1.3 電橋測量誤差
測量時誤差不超過10%，當(dāng)試樣tanδ小于0.001時測量誤差不超過0.0001，電容的測量誤差不超過5%，標(biāo)準(zhǔn)電容器的tanδ應(yīng)小于0.0001。
5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置。
5.2 方法B
5.2.1 方法B的測試儀器有兩種：一種是諧振升高法（Q表），另一種時變電鈉法。
5.2.1.1 諧振升高法（Q表）
其測試原理圖如圖7所示。
A 電流表；
R0 耦合電阻；
L 輔助線圈；
C 標(biāo)準(zhǔn)電容；
C0 試樣；
V、V1 電壓表（用Q值表示）。
圖 7 Q表原理圖
5.2.1.1.1 測量范圍
頻率為50Hz～50MHz，電容40pF～500pF，Q值10～600。
5.2.1.1.2 測量誤差
電容誤差：±（0.5%C+0.1pF），Q值±10%；有關(guān)儀器的測量誤差均為±10%。
5.2.1.2 變電鈉法
其測試原理如圖8所示。
C——可調(diào)電容；
L——諧振線圈；
CT——管形微調(diào)電容；
Cu——主電容；
Cx——試樣。
圖 8 高頻介質(zhì)損耗儀原理圖
6、試樣：
6.1 試樣尺寸
6.1.1 方法A試樣尺寸見表4。
表 4 試樣尺寸 單位為毫米
試樣 | 尺寸 | 厚度 |
板狀 | 圓形：φ100 正方形：邊長100 | 軟質(zhì)橡膠1.0±0.1 硬質(zhì)橡膠2.0±0.2 |
管狀 | 管長100 |
6.1.2 方法B試樣尺寸見表5。
表 5 試樣尺寸 單位為毫米
試樣 | 尺寸 | 厚度 |
板狀 | 圓形：φ38 正方形：邊長100 | 軟質(zhì)橡膠1.0±0.1 硬質(zhì)橡膠2.0±0.2 |
管狀 | 管長50 |
，φ50
、φ100
，管長70
6.2 試樣的制備
試樣的制備應(yīng)符合GB/T 2941的規(guī)定，也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉(zhuǎn)刀進(jìn)行裁切，制樣方法的不同，其試驗(yàn)結(jié)果無可比性。
6.3 試樣數(shù)量
試樣的數(shù)量不少于3個。
7、硫化與試驗(yàn)之間的時間間隔：
試樣在硫化與試驗(yàn)之間的時間間隔按GB/T2941的規(guī)定執(zhí)行。
8、試驗(yàn)條件：
8.1 試樣表面應(yīng)清潔、平滑，無裂紋、氣泡和雜質(zhì)等，試樣表面應(yīng)用蘸有無水乙醇的布擦洗。
8.2 試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h。
8.3當(dāng)試樣處理有特殊要求時，可按其產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的進(jìn)行。
9、試驗(yàn)步驟：
9.1 方法A
9.1.1 試驗(yàn)電壓為1000V～3000V，一般情況下為1000V，電源頻率為50Hz。
9.1.2 按設(shè)備說明書正確的連接。
9.1.3 接通電源預(yù)熱30min。
9.1.4 將試樣接人電橋C、的橋臂中，加上試驗(yàn)電壓，根據(jù)電橋使用方法進(jìn)行平衡，讀取R3和tanδ或C4的值。
9.2 方法B—諧振升高法（Q表法）
9.2.1 按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器，選定測量頻率，測定C1和Q1的值。
9.2.2 將試樣放入測試電極中，并調(diào)節(jié)電容器C，使電路諧振，達(dá)到大Q值記下調(diào)諧電容量C2和Q2的值。
9.2.3 將試樣從測試電極中取出，調(diào)節(jié)C或測試電極的距離，使電路重新諧振，記下C、或測試電極的校正電容值與Q值，并根據(jù)測試值計(jì)算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε。
9.2.4 其他高頻測試儀器按其說明書進(jìn)行操作，通過測試值計(jì)算出損耗角tanδ和介電常數(shù)ε。
