J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)能夠快速而準(zhǔn)確地識別復(fù)雜的LIBS發(fā)射峰。特定的搜索標(biāo)準(zhǔn)(波長范圍、元素組、等離子體激發(fā)狀態(tài))可以用來在短時間內(nèi)縮小搜索范圍。TruLIBS?允許用戶從Axiom LA軟件直接加載實驗庫LIBS光譜來識別和標(biāo)記峰值，通過將多個硬件指令組合在一起，并及時對它們進(jìn)行排序，Axiom LA創(chuàng)建了一個存儲“方案”。方案一經(jīng)創(chuàng)建，之后就可以將它們調(diào)出，并將它們組合，以提供高度自動化的檢測體驗。我們只需“調(diào)出”整個方案以重復(fù)實驗，或者復(fù)制方案的一部分，將其與新的指令結(jié)合起來，以解決新的采樣方案。
設(shè)備特點：
1、緊湊型微集氣管設(shè)計，以消除脫氣和記憶效應(yīng)；
2、高硬度Q開關(guān)，短脈沖Nd:YAG激光器波長低至213nm；
3、可將LIBS強(qiáng)度和時間分辨的ICP-MS信號轉(zhuǎn)換為選定元素的非常詳細(xì)的2D/3D圖。
設(shè)備優(yōu)勢：
1、針對雙重LA/LIBS性能而設(shè)計的緊湊、模塊化系統(tǒng)，J200系統(tǒng)在于其模塊化系統(tǒng)的設(shè)計；
2、自動調(diào)整樣品高度，保證激光剝蝕的一致性J200采用了一種自動調(diào)高傳感器，該傳感器的設(shè)計考慮到了樣品表面的形態(tài)變化；
3、具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室，以優(yōu)化氣流和微粒沖洗性能根據(jù)測量目標(biāo)(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)。
J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)是由ASI公司所生產(chǎn)，ASI公司是一家專門生產(chǎn)光譜儀的公司，在技術(shù)上和功能上以及安全性能上都是比較完善和成熟的，該設(shè)備對于確定樣品表面的污染物、執(zhí)行涂層分析、了解薄膜結(jié)構(gòu)以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能，并可觀察從樣品中收集到的一組LIBS光譜和質(zhì)譜之間的差異，通過參考標(biāo)準(zhǔn)濃度值直接賦值給LIBS或ICP-MS強(qiáng)度，單變量校準(zhǔn)曲線可輕松生成，可以用于精確定量分析的高級校準(zhǔn)模型，LIBS光譜和質(zhì)譜可以形成光譜庫的基礎(chǔ)，使用起來非常的簡單方便，而且還比較經(jīng)濟(jì)實用。
