能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7000/8000
電子·電氣
·RoHS指令、無鹵素等篩選分析
·半導(dǎo)體、存儲(chǔ)裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析
致元素分析的您能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7000/8000
兼具*分析性能和高操作性能的旗艦機(jī)型
滿足所有領(lǐng)域不同的應(yīng)用能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7000/8000
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·應(yīng)對(duì)ELV指令的篩選分析
·各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測
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其它
·考古學(xué)樣品及寶石成分分析
·玩具·日用品中有害重金屬元素測定等
460mm寬的緊湊身材，配備大容量的樣品室
460mm寬的緊湊身材，與我公司以往機(jī)型相比尺寸減少20%。而緊湊的機(jī)身，卻擁有大可放置200（W）×275（D）×約100（H）mm樣品的大型樣品室。
“初次見面”也可輕松上手的軟件PCEDX Navi
為了使X射線熒光分析貼近每一個(gè)實(shí)驗(yàn)室，深入淺出的軟件PCEDX Navi應(yīng)運(yùn)而生。
憑直覺操作的淺顯簡單畫面，使從初學(xué)者到專家的每一位用戶都可以體驗(yàn)到便捷的操作環(huán)境。
的分析性能
配置高性能半導(dǎo)體檢測器，與化的光學(xué)系統(tǒng)和一次濾光片的組合，實(shí)的高靈敏度。從輕元素到重元素，全范圍輕松應(yīng)對(duì)。與以往配置液態(tài)氮的半導(dǎo)體檢測器相比，檢測下限可提升1.5～5倍，可應(yīng)對(duì)高要求的研究分析。
分辨率出色，分析多元素組成的樣品可降低譜峰重疊的影響，提升分析結(jié)果的可靠性。另外，與以往機(jī)型相比可以在更短的時(shí)間內(nèi)完成精確分析，高通量檢測器大可提高10倍，適用于高速分析的產(chǎn)品管理。
無需液態(tài)氮的電子制冷半導(dǎo)體檢測器有效控制運(yùn)行成本，有利于提高產(chǎn)品維護(hù)性能。
的通用性
從微小樣品到大型樣品，從粉末樣品到液體樣品，靈活應(yīng)對(duì)各類樣品。配備進(jìn)行輕元素的高靈敏度分析時(shí)所需的真空檢測單元、氦氣置換檢測單元，以及可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)連續(xù)測定的12位樣品轉(zhuǎn)臺(tái)(選購件)。
裝置規(guī)格
測定原理 X射線熒光分析方法
測定方法 能量色散型
測定對(duì)象 固體·液體·粉末
測定范圍 11Na - 92U (EDX-7000) 6C - 92U (EDX-8000)
樣品室尺寸 大300（W）×275（D)×約100（H)mm
一次濾光片 5種（含OPEN為6種）自動(dòng)切換
檢測器類型 SDD
液態(tài)氮供給 不要（電子制冷）
定量分析 工作曲線法、共存元素校正、FP法、薄膜FP法、背景FP法
薄膜FP法、背景FP法
