主要技術(shù)資料 :
頻率范圍:5 Hz - 13 MHz
增益-相位測(cè)量:幅度,相位,群延時(shí)
浮點(diǎn)或接地器件
阻抗測(cè)量:|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,D,Q,Δ,Δ%
標(biāo)準(zhǔn)Agilent-IB
Agilent4192A低頻阻抗分析儀對(duì)諸如電信濾波器-音頻/視頻電子電路之類的器件和基礎(chǔ)電子元件完成網(wǎng)絡(luò)分析和阻抗分析。對(duì)浮點(diǎn)接地器件也可加以測(cè)試。測(cè)量信號(hào) (23°~±5℃)
頻率范圍 5Hz~13MHz
頻率步進(jìn) 0.01Hz(5Hz~10kHz);0.01Hz(10kHz~100kHz);
0.1Hz(100kHz~1MHz),1Hz(1MHz~13MHz)
頻率精度 ±50ppm
振蕩器電平 5mV~1.1Vrms可變,50Ω(幅度-相位測(cè)量)或開(kāi)路(阻抗測(cè)量)
振蕩器電平步進(jìn) 1mV(5mV~100mV);5mV(100mV~1.1V)
電平監(jiān)視(阻抗測(cè)量): 可監(jiān)視穿通電流或端電壓取樣
控制: 通過(guò)前面板或agilent-IB進(jìn)行點(diǎn)頻和掃頻測(cè)量
測(cè)量方式
100mV~1.1V)
電平監(jiān)視(阻抗測(cè)量): 可監(jiān)視穿通電流或端電壓取樣
控制: 通過(guò)前面板或agilent-IB進(jìn)行點(diǎn)頻和掃頻測(cè)量
測(cè)量方式
定點(diǎn)測(cè)量 在規(guī)定的頻率(或直流偏壓)上進(jìn)行
掃頻測(cè)量 從起始頻率到終止頻率(或直流偏壓)的手動(dòng)或自動(dòng)掃描(以選擇的步進(jìn)頻率或直流偏壓)
掃描方式 線性或?qū)?shù)(只是對(duì)頻率)
輸出電壓 ±1V
關(guān)鍵狀態(tài)儲(chǔ)存 5種測(cè)量狀態(tài)設(shè)置可以在任何時(shí)間被存儲(chǔ)和調(diào)用
agilent-IB數(shù)據(jù)輸出和遙控 標(biāo)準(zhǔn)
自測(cè)試 自動(dòng)自我測(cè)量
觸發(fā) 內(nèi)部,外部、手動(dòng)或agilent-IB
幅度—相位測(cè)量
測(cè)量參數(shù) 相對(duì)幅度B-A(dB)和相位Q(度或弧度),B-A和群延時(shí);**幅度A(dBm或dBV)或B(dBm或dBV)
和所有參數(shù)的偏移(Δ,Δ%)
參考幅度 0dBV=1Vrms,0dBm=1mW(50Ω負(fù)載)
振蕩器輸出電阻: 50Ω
通道A和B: 輸入阻抗:1MΩ±2%,并聯(lián)電容,25pF±5pF