參照標(biāo)準(zhǔn)
本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。
GJB 150.3高溫試驗;GJB 150.4 低溫試驗;
GB10588-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件;
GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件;
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗
執(zhí)行與滿足的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
GJB360.7-87 溫度沖擊試驗
SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗箱—箱式
GJB150.3-86 GJB150.5-86
GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗箱,電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗箱,電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗機
溫度范圍:-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃
數(shù)碼測試高低溫廠家箱|50L冷熱沖擊試驗箱設(shè)備|兩箱式溫沖測試箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu):
試驗箱結(jié)構(gòu)形式:試驗箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,既試驗箱由位于上部的高溫試驗箱,位于下部的低溫試驗箱體、位于后部的制冷機組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀,制冷機組置于獨立的機組箱體內(nèi),以減少制冷機組運行時的震動、噪聲對試驗箱的影響,同時便于機組的安裝和,電器控制面板置于試驗箱的左側(cè)板上以便于運行操作。