PA-300-MT應(yīng)力測量儀
*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
PA-300-MT應(yīng)力測量儀 PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
PA-300-MT應(yīng)力測量儀
主要特點(diǎn)：
- 操作簡單，測量速度可以快到3秒；
- 視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣；
- 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)；
- 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較；
- 維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu);
- 高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。
應(yīng)用領(lǐng)域：
- 小尺寸樣品
- 光學(xué)鏡頭
主要技術(shù)參數(shù)：
| 項(xiàng)次 | 項(xiàng)目 | 具體參數(shù) |
| 1 | 輸出項(xiàng)目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】 |
| 2 | 測量波長 | 520nm |
| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
| 4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm（西格瑪） |
| 6 | 視野尺寸 | 17.5x21mm到33x40mm（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 7 | 選配鏡頭視野 | 6.3x7.5mm |
| 8 | 選配功能 | 實(shí)時(shí)解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實(shí)現(xiàn)外部控制 |
測量案例：
