PSS A7000 APS-DLS 激光粒度儀
光阻法模塊結(jié)合動態(tài)光散射模塊
自動稀釋技術(shù),實現(xiàn)動態(tài)大范圍檢測
基本信息
儀器型號:PSS A7000 APS-DLS
工作原理:單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing,SPOS)
動態(tài)光散射理論(Dynamic Light Scattering, DLS)
檢測范圍: 6nm-2500μm
PSS A7000 APS-DLS全自動激光粒度儀開創(chuàng)性的將光阻法和動態(tài)光散射法結(jié)合在一起,集自動進樣、自動稀釋、自動檢測、數(shù)據(jù)處理以及自動清洗等全自動檢測功能于一身,為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析,其測量范圍可達6nm - 2500 μm。
A7000 APS-DLS搭載光阻法檢測模塊和動態(tài)光散射模塊,將瑞利散射理論和光阻理論有機結(jié)合在一起,不僅能對較大的亞微米級別的粒子進行顆粒計數(shù),更能檢測納米級別的樣本的粒度分布。在傳統(tǒng)的經(jīng)典光散射(激光衍射,Laser Diffraction)之外,對于高分散體系多了一個選擇。
技術(shù)優(yōu)勢
檢測范圍廣6 nm - 2500μm;
高分辨率,高靈敏性,統(tǒng)計精度高;
雙模塊化設(shè)計,既能獨立工作,又能有機組合;
集自動進樣、自動檢測、數(shù)據(jù)處理以及自動清洗等自動化功能與一身;
高分辨率
分辨率,在這里指的是分辨同一體系內(nèi)不同粒徑大小的能力。得益于超前的設(shè)計理念和軟硬件組合,SPOS技術(shù)除了能夠呈現(xiàn)*不同于經(jīng)典光散射的顆粒計數(shù)分布外,相對于經(jīng)典的電阻法和光阻法,具有更高的分辨率和精準(zhǔn)性。它不會錯過任何顆粒細節(jié),而這些細節(jié)往往是決定產(chǎn)品好壞的標(biāo)準(zhǔn)。
圖1高分辨率展示
如圖1所示,同一個樣本中混合0.7μm,0.8μm,1.3μm,2μm,5μm,10μm,15μm,20μm,50μm,100μm,200μm 11種標(biāo)準(zhǔn)PSL粒子,SPOS技術(shù)可以很容易將每種不同大小的標(biāo)粒區(qū)分清楚。
圖2 SPOS VS Laser diffraction
圖2展示了同一個樣本在SPOS技術(shù)和激光衍射法(Laser diffraction,LD)粒度儀中測得的結(jié)果。樣本使用的是過400目篩(37μm)的樣本。SPOS技術(shù)(綠色線)顯示在35μm以上是沒有粒子的,這和實際情況相符。但是使用LD檢測得到的僅僅是“相似”的分布,但是在100μm本來沒有顆粒的情況下卻給出了還有大量大顆粒的假性結(jié)果。
高靈敏度
APS-DLS系統(tǒng)提供了超高的靈敏度,依托于SPOS技術(shù),哪怕只有一顆顆粒,也不會放過,靈敏度可以達到10PPT等級。高靈敏度確保了樣品檢測的細節(jié)不被忽視,滿足了制造業(yè)升級過程中,除了粒徑檢測的需求外,還要對或大或小的游離顆粒的控制,無論是半導(dǎo)體行業(yè)尾端大顆粒對良率的影響,還是鋰電行業(yè)正負極材料小顆粒對安全性的危害。APS-DLS系統(tǒng)都可以準(zhǔn)確識別,為制造業(yè)保駕護航。
圖3 高靈敏度展示
圖3展示了一個樣本檢測前,僅加入10μL的50μm標(biāo)準(zhǔn)乳膠粒子,混合好后進行檢測,如圖所示儀器依舊很準(zhǔn)確的檢測出來,并且告知加入的50μm標(biāo)粒僅有33顆,粒徑是50.127μm。
高效的粒度分析
APS-DLS系統(tǒng)的高靈敏度、高分辨率不僅帶來了更為接近真實情況的粒徑分布,同時檢測快速,節(jié)省客戶時間,僅需幾分鐘,既可獲得檢測結(jié)果。同時儀器支持自動進樣、自動清洗、自動稀釋等功能,將大大提高實驗室工作效率,幫助他們?yōu)榘雽?dǎo)體,乳劑,粉體客戶更快地獲得重要結(jié)果。
APS-DLS系統(tǒng)同樣支持在線系統(tǒng),集成在產(chǎn)線中的關(guān)鍵監(jiān)控點,實時檢測粒度結(jié)果,發(fā)現(xiàn)異常,及時處理,降低工作成本,簡化工作流程。
真實的粒徑分布
粒粒皆清楚,不丟失任何細節(jié)。
不同行業(yè)對粒度檢測的需求其實一直各有側(cè)重點,為了獲得更真實的粒徑結(jié)果,往往需要通過電鏡等儀器進行分析,但存在著統(tǒng)計數(shù)據(jù)不足以及不利于規(guī)?;瘷z測的弊端。為了滿足大量即時的檢測需求,經(jīng)常以犧牲精確性和分辨率來換取檢測速度和易用,但僅能獲得平均粒徑以及分布的檢測已無法滿足現(xiàn)在行業(yè)的發(fā)展。
APS-DLS系統(tǒng)對于細節(jié)的把控,可以確保檢測結(jié)果接近真實的情況,幫助質(zhì)量形成統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)方案,監(jiān)控批間差異,穩(wěn)定產(chǎn)品質(zhì)量。
圖4 較均勻的樣品SPOS VS 電鏡下掃描結(jié)果
圖5 不均勻的樣品SPOS VS 電鏡下掃描結(jié)果
圖4和圖5展示了一個均勻的樣本和一個不均勻的樣品在SPOS技術(shù)及電鏡下的檢測結(jié)果。均勻的樣本在電鏡下顆粒之間大小較為相似,相應(yīng)的SPOS技術(shù)檢測可見譜圖較窄。而不均勻的樣本,電鏡下可以看到大大小小的顆粒,相應(yīng)SPOS技術(shù)檢測的結(jié)果出現(xiàn)高高低低的峰,與電鏡結(jié)果可直接對應(yīng)。
工作原理
目錄結(jié)構(gòu):
1.單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)簡介
2.傳統(tǒng)光阻法和光散法測量粒度的原理
3.PSS的SPOS技術(shù)介紹
4.自動稀釋原理介紹
1、單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)簡介
單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing, SPOS)是一種用于測量溶劑中懸浮粒子的大小和數(shù)量濃度的激光粒度檢測通用技術(shù)。在SPOS技術(shù)中液體懸浮液中的粒子流經(jīng)傳感器的樣品池時,在激光光源的照射下,被阻擋或者被散射的光會轉(zhuǎn)變成脈沖電壓信號,脈沖信號的大小是由粒子的截面面積和物理判定規(guī)則即光散射或者光阻共同決定的。光阻也被稱為不透光度或者光消減。而粒子間的相互阻擋和散射是和粒子的大小和濃度是有關(guān)系的,利用脈沖幅度分析器和校準(zhǔn)曲線便可以得到懸浮粒子的數(shù)量濃度和粒度大小分布。傳統(tǒng)光阻法可以測得1.5μm以上的粒子和并具有較高的分辨率。
單顆粒傳感技術(shù)(SPOS)*了常見粒度儀檢測技術(shù)在檢測粒徑分布中的重要不足—粒子數(shù)量的統(tǒng)計。自AccuSizer 780系列儀器誕生,以往以犧牲精確性和分辨率來換取檢測速度和易用的歷史一去不復(fù)返!
粒粒皆清楚,不丟失任何細節(jié)。
2.傳統(tǒng)光阻法與光散射法原理
Figure 1 光阻法檢測示意圖
圖1為光阻法檢測原理圖,待測液體流過橫截面很小的流通池,流通池兩側(cè)裝有光學(xué)玻璃,激光器的光束通過透鏡組準(zhǔn)直,光束穿過流通池并被光電探測器所接收。若待測液體中沒有顆粒,則光電探測器接收到的光信號穩(wěn)定不變,輸出的電壓信號也恒定,將此恒定信號作為基準(zhǔn)電壓;若液體中有顆粒物質(zhì),顆粒通過流通池傳感區(qū)域,將會遮擋激光,光電探測器接收到的光信號減小,產(chǎn)生一個負的脈沖電信號,如下圖2所示。
Figure 2 光電二極管信號
脈沖信號幅度與基準(zhǔn)電壓信號有如下關(guān)系:
(1)
式(1)中:E為顆粒遮擋引起的脈沖幅度;a為顆粒的有效遮擋面積(等效為球形);A為光電探測器的有效面積;E0是沒有顆粒時的光電探測器所產(chǎn)生的基準(zhǔn)電壓。因此,脈沖信號幅度對應(yīng)顆粒的大小,脈沖信號個數(shù)對應(yīng)顆粒的數(shù)量。
Figure 3 光散射法檢測原理圖
圖3為光散射法檢測原理圖,待測液體流過流通池,流通池兩側(cè)裝有光學(xué)玻璃,激光器的光束通過透鏡組準(zhǔn)直,光束穿過流通池,照射在光陷進上。若待測液體中沒有顆粒,則光電探測器就收不到光信號,若液體中有顆粒,顆粒通過流通池,與激光光束發(fā)生散射現(xiàn)象。某一個(或幾個)角度下的散射光通過透鏡收集匯聚到光電探測器上,產(chǎn)生正的電信號脈沖,脈沖信號的幅度和散射光強成正比。根據(jù)信號的幅度和個數(shù)可以對液體中的微小顆粒進行計數(shù)檢測。
當(dāng)光束照射含有懸浮微粒的液體時光能減弱。根據(jù)文獻, 此時懸浮液中微粒會對光產(chǎn)生散射和吸收等作用,因為這些作用導(dǎo)致的光強減弱與微粒的濃度存在線性關(guān)系。在文獻中引用了如下公式,來描述當(dāng)微粒濃度較小時,透射光強與入射光強之間的關(guān)系:
它對應(yīng)于因為散射和吸收而導(dǎo)致光的衰減總量。有米氏散射的理論,隨著微粒的增大,光強大量集中于前向0度角附近,圖1中我們也可以注意到這一點。(4)式中沒有考慮到這樣的事實:在光阻法檢測中,前向0角度附近的散射光仍然能夠被探測器接收,因此必須考慮對散射系數(shù)進行修正。實際中(4)式變?yōu)椋?/p>
3.PSS技術(shù)的單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)簡介
經(jīng)過光感區(qū)域的粒子由于大小不同,光強隨之產(chǎn)生相應(yīng)的變化。將探測器收集的光信號轉(zhuǎn)換成電壓信號,不同的電壓信號對應(yīng)不同的粒徑大小,從而得到微粒的粒徑。美國PSS粒度儀公司(Particle Sizing Systems)的單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing,SPOS)是在傳統(tǒng)光阻法(LE)大顆粒光學(xué)傳感技術(shù)的基礎(chǔ)上加入了激光散射模塊(LS)。在兩個模塊(LE+LS)同時運行的情況下,檢測下限由原來純光阻的1.5μm下探至0.5μm。使得其在大顆粒檢測領(lǐng)域的應(yīng)用更加的廣泛。
SPOS技術(shù)對粒子的信號響應(yīng)方式是信號與特定粒子相對應(yīng)的。AccuSizer 780系列儀器中的傳感器通過兩種不同性質(zhì)的物理作用:光消減(light extinction, LE)與光散射(light scattering, LS)對通過傳感器的粒子進行測定。光消減技術(shù)檢測通過流動池的光強變化,擁有檢測粒子的粒徑范圍廣且與粒子組份無關(guān)等優(yōu)點。然而,它的靈敏度有限。另一方面,光散射技術(shù)具有相對窄的動態(tài)粒徑范圍 (取決于檢測器/放大器的飽和值),但能檢測到小粒徑的粒子,使用大功率激光光源還能檢測到粒徑更小的粒子。通過合并光消減和光散射響應(yīng)信號,傳感器可同時擁有這兩種方法的優(yōu)點,因而在不損失單粒子分辨率巨大優(yōu)勢的前提下?lián)碛邢鄬^廣的動態(tài)粒徑范圍。
圖4 PSS的SPOS原理圖
4. 自動稀釋原理介紹
單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(Single Particle Optical Sizing, SPOS)雖然具有*的量化粒度分布的優(yōu)點,但是相應(yīng)的粒子間的重合效應(yīng)會造成檢測結(jié)果不準(zhǔn)。PSS粒度儀使用的自動稀釋機制,可以將樣品稀釋到目標(biāo)濃度,然后再采集數(shù)據(jù),保證粒度可以以“single”狀態(tài)通過傳感器,從而實現(xiàn)高濃度樣本的檢測。
系統(tǒng)可以根據(jù)稀釋倍數(shù)自動計算給出原樣品顆粒濃度,解決了高濃度樣品的檢測難題,適合測試其他技術(shù)手段無法檢測高濃度樣本,更加適合測量樣品量稀少且珍貴的樣品。
圖5 自動稀釋原理圖
分析方法及原理 | 動態(tài)光散射法+光阻法 |
激光光源 | 15mW固態(tài)光源(可選35mW、50mW) |
檢測器 | 搭配多檢測器,PMT、APD、LE |
檢測形式 | 連續(xù)檢測 |
測量范圍 (傳感器可選) | 6nm - 2500μm |
檢測角 | 10-175° |
準(zhǔn)確性 | ±1% |
重復(fù)性 | ±1% |
樣品類型 | 水相/有機相 |
通道數(shù)量 | 512 |
流速范圍 | 60-180ml/min |
進樣量 | 5μl-5ml |
取樣方式 | 手動/自動 |
自動稀釋 | 標(biāo)配二步稀釋 |
自動清洗 | 支持 |
循環(huán)系統(tǒng) | 一體化設(shè)計 |
樣品濃度限值 | 1011個/ml |
Chamber | 30ml |
閥門驅(qū)動方式 | 標(biāo)配:電動 選配:氣動 |
稀釋系統(tǒng) | 標(biāo)配:超純水 選配:有機溶劑 |
攪拌器 | 標(biāo)配:磁力攪拌(轉(zhuǎn)速可控) 選配:機械攪拌 |
Windows系統(tǒng) | Windows 7以上專業(yè)版操作軟件 |
分析操作軟件 | 標(biāo)配:Windows兼容 研發(fā)軟件 |
電源選項 | 220 – 240 VAC,50Hz 或100 – 120 VAC,60Hz |
乳劑 | 兩種互不相溶的液體經(jīng)乳化制成的非均勻分散體系,通常是水和油的混合物。乳劑有兩種類型,一種是水分散在油中,另一種是油分散在水中。加工過程中它們均需均質(zhì)化處理到所需的粒徑大小以期獲得穩(wěn)定體系,延長保質(zhì)期。乳劑穩(wěn)定性與顆粒粒徑分布密切相關(guān),僅關(guān)注粒徑大小并不代表一定穩(wěn)定,乳劑中存在極為少量的微米級別大顆粒,而這些顆粒的存在不僅會導(dǎo)致樣品穩(wěn)定性變差,注射使用更會對患者造成嚴重不良反應(yīng)。 |
化學(xué)機械拋光液 (CMP SLURRY) | 化學(xué)機械拋光是半導(dǎo)體制造加工過程中的重要步驟?;瘜W(xué)機械拋光液是由腐蝕性的化學(xué)組分和磨料(通常是氧化鋁、二氧化硅或氧化鈰)兩部分組成。拋光過程很大程度上取決于晶片表面構(gòu)型。晶片的加工誤差通常以埃計,對晶片質(zhì)量至關(guān)重要。拋光液粒度越均勻、不聚集成膠則越有利于化學(xué)機械拋光加工過程的順利進行。 |
墨水 | 隨著打印機技術(shù)的不斷發(fā)展,打印機用的墨水變得越來越重要。噴墨打印機墨水的粒度應(yīng)當(dāng)控制在一定的尺度以下,且分布均勻,大的顆粒易于堵塞打印頭并影響打印質(zhì)量。墨水是通過研磨方法制得的,可用粒度檢測分析儀器設(shè)備監(jiān)測其研磨加工過程,以保證墨水的顆粒粒度分布均勻,避免產(chǎn)生聚集的大顆粒。 |
粉材 | 對于氧化鋁、硅微粉、鋰電池正負極等粉體來說,粒徑需要控制在合適的范圍內(nèi)才能確保粉體的質(zhì)量,無論是過大還是過小都會影響材料本身的質(zhì)量。以氧化鋁為例,氧化鋁顆粒過小則在生產(chǎn)過程中容易起塵,造成大量的損耗,被認為是冶金級“垃圾”如果顆粒過大,則具有形成沉淀的傾向,影響氧化鋁在電解質(zhì)中的溶劑速率。 |