渦流膜厚計。LH-200J
內置打印機的渦流膜厚計模型測量范圍0～800μm測量精度小于50μm：±1μm、50μm以上：±2%數據存儲器1500點、統計計算功能
基準值（公定法中的值）與KB-270預測值的比較
※以下僅為檢量線制作測試結果的一例。不保證在同一種類的樣品中能得到同樣的結果。
規(guī)格LZ-373 73 電磁涂層測厚儀
測量方法利用電磁感應渦流的方法
應用黑色金屬和有色金屬基板基板絕緣涂層的非磁性涂層
測量范圍電磁2500μm金99.0mils：0
渦流：0-1200μM或47.0mils
測量精度<50 μm ± 1 μm, 50 μm to <1000 vm ± 2%, ≥ 1000 μm ± 3%
分辨率<100 μm, 0.1 μm; ≥ 100 μm, 1 μm
合格標準電磁感應：JIS k5600-1-7、JIS h8501、JIS h0401 / ISO 2808 ISO 2064 ISO 1460、、、ISO 2178 ISO 19840和BS、3900-c5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5
渦流：JIS k5600 1 7、jis h8680 - 2、jis h8501 / ISO 2808、iso 2360、iso 2064、iso 19840 / BS 3900～C5／ASTM D i-7091 5
數據存儲器大約39000點
應用程序的內存
50種電磁校準曲線，
50種類型的渦流校準曲線。
探查單點定壓型探頭（lep-j，lhp-j）
顯示格式數字（LCD背光，小顯示單位0.1毫米）
外部輸出PC或打印機輸出（RS-232C）
電源4x 1.5V電池（AA型堿性）
功率消耗80兆瓦（當背光關閉）
電池壽命100小時（constant操作，背光關閉）
操作環(huán)境0～40℃
功能16種類型的內部函數
渦流膜厚計LH-200JMcWAVE Lite可以從膜厚計向PC自由傳送數據，具有能夠將接收到的原始數據和編輯的登錄數據分別管理到1000件的雙重數據庫結構?；窘y計值實時顯示，可設置在任意表格樣式中。此外，還具有通過單擊將編輯后的數據傳遞給MS Excel，還可以進行數據結合和分割的豐富多彩的編輯功能。McWAVE Std.是除了Lite版的全部功能之外，還能夠用一個圖標圖形顯示、印印X-R管理圖和西格瑪（σ）管理等直方圖的高功能版。轉運到P C的膜厚數據與2個統計管理圖直接相連，可以簡單地顯示管理圖。渦流膜厚計LH-200J McWAVE Pro.除了Std.的功能外，還可以在PC上登錄、運用大量的基礎修正數據等，大幅強化了功能。Multi PROP是將膜厚計的測定數據轉換成公團、公社等格式，用于印刷的軟件。
一般來說，成分析需要時間。無論哪種優(yōu)秀的分析方法，一天能得到的數據都是有限的。
但是，也有縮短時間的方法。
——使用近紅外分量計。預先與成分分析值相關的近紅外分量計檢測
如果預先登記定量線的話，幾秒鐘就能知道成分含有率。
