雙光束紫外分光光度計UV762PC
使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
功能特點：雙光束紫外分光光度計UV762PC
- 關(guān)鍵元件采用進口元件，全新*的光學系統(tǒng)設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
- 真正的雙光束測光系統(tǒng)，配合*的電路測控系統(tǒng)，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
- *的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找*位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全．
- 采用大屏幕中文窗口（LED）液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．
- 優(yōu)良的軟件設計和編制，使儀器有較強光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜, 多波長（ 1-3λ） 測定、動力學測定、１－３次曲線擬合、１－４階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
- 基于Windows 平臺開發(fā)的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節(jié)省費用。
性能指標：雙光束紫外分光光度計UV762PC
- 波長范圍：190nm～1100nm
- 光譜帶寬：2nm
- 波長準確度：≤±0.3nm（開機自動校正）
- 波長重復性：≤0.2nm
- 透射比準確度：±0.3%（T）
- 透射比重復性：0.2%（T）
- 透射比測量范圍：0～200%T
- 吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
- 雜光：≤0.15%（在220nm處，以NAI測定）
- 漂移：≤0.004A/H （500nm處）
- 噪聲：線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
- 掃描速度：快 中 慢
