北京時(shí)代涂層測(cè)厚儀TT2600帶打印涂層
功能特點(diǎn)：
l 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
l 可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
l 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
l 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
l 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)量次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
北京時(shí)代涂層測(cè)厚儀TT2600帶打印
標(biāo)準(zhǔn)配置：
主機(jī)、打印機(jī)、F頭或N頭、標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）、鐵基體或鋁基體、充電器
可選附件：
探頭（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）、通信線纜、通信軟件
產(chǎn)品概述：
本儀器是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
產(chǎn)品用途：
本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。
北京時(shí)代涂層測(cè)厚儀TT2600帶打印涂層
功能特點(diǎn)：
l 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
l 可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
l 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
l 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
l 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)量次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
l 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
l 具有存貯功能：可存貯640個(gè)測(cè)量值；
l 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
l 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
l 具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
l 具有電源欠壓指示功能；
l 操作過程有蜂鳴聲提示；
l 具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
l 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)頭型號(hào) | F400 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | CN02 | ||
工作原理 | 磁 感 應(yīng) | 渦 流 | ||||||
測(cè)量范圍(mm) | 0～400 | 0～1250 | 0～1250 | 0～10000 | 0～1250(銅上鍍鉻0～40) | 10～200 | ||
低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
示值 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ||
誤差 | 二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±((1～3)%H+0.7) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+10) | ±[(1～3)%H+1.5] |
| |
測(cè) 試 條 件 | 小曲率半徑(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 僅為平直 |
小面積的直徑(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | ||
基體臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無限制 | ||
注：H——標(biāo)稱值
測(cè)頭選用參考表：
覆蓋層
基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等） | 非磁性的有色金屬的覆層 （如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | |||
覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | ||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑大于30mm | F1型測(cè)頭0-1250μm F400型測(cè)頭0-400μm | F1型測(cè)頭0-1250μm F10型測(cè)頭0-10mm | F400型測(cè)頭0-400μm F1型測(cè)頭0-1250μm | F1型測(cè)頭0-1250μm F10型測(cè)頭0-10mm |
被測(cè)面積的直徑小于30mm | F400型測(cè)頭0-400μm | F1型測(cè)頭0-1250μm F400型測(cè)頭0-400μm | F400型測(cè)頭0-400μm | F400型測(cè)頭0-400μm F1型測(cè)頭0-1250μm | |
如銅、黃銅、鋁、鋅、錫等有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑大于5mm | N1型測(cè)頭0-1250μm | N1型測(cè)頭只能測(cè)銅上鍍鉻0-40μm | ||
塑料、印刷線路板等非金屬基體 | 被測(cè)面積的直徑小于7mm | - | - | CN02型測(cè)頭10-200μm （主要用途測(cè)銅箔厚度） | |
