泰克TLA7000系列邏輯分析儀
可提供必要的速度和靈活性，幫助您捕獲關(guān)于當(dāng)前快速的微處理器和存儲器設(shè)計的邏輯細(xì)節(jié)信息。準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)復(fù)雜錯誤的根源，借助一目了然的大尺寸顯示器和很高的數(shù)據(jù)吞吐量提供您需要的信息，并通過同一個探頭提供模擬和數(shù)字信號的時間相關(guān)視圖。
概述泰克TLA7000系列邏輯分析儀
模塊化TLA7000系列邏輯分析儀可提供必要的速度和靈活性，幫助您捕獲關(guān)于當(dāng)前快速的微處理器和存儲器設(shè)計的邏輯細(xì)節(jié)信息。準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)復(fù)雜錯誤的根源，借助一目了然的大尺寸顯示器和很高的數(shù)據(jù)吞吐量提供您需要的信息，并通過同一個探頭提供模擬和數(shù)字信號的時間相關(guān)視圖。
泰克TLA7000系列邏輯分析儀
功能 | 優(yōu)點 |
| MagniVu™采集 | 借助于所有通道上的較高采樣分辨率（20 ps）*避免定時或狀態(tài)采集模式下的事件遺漏。 |
| iCapture™ 多路復(fù)用 | 通過一個邏輯分析儀探頭同時采集數(shù)字和模擬信號，消除雙重探測。 |
| 通過旗標(biāo)來標(biāo)記毛刺 | 避免了通過功能來手動搜索所有通道以顯示毛刺出現(xiàn)的時間和通道的需要。 |
| TS/TH 違例觸發(fā) | 利用能夠自動獲得斷續(xù)設(shè)置和保留違例的實時違例觸發(fā)功能避免耗時而復(fù)雜的電路輸出監(jiān)測任務(wù)。 |
| iView™ 顯示 | 通過集中顯示時間相關(guān)的、集成的模擬與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)獲得全面的系統(tǒng)可視性 |
| iVerify™ 分析 | 通過多通道總線分析（使用示波器生成的眼圖）迅速發(fā)現(xiàn)信號完整性問題。 |
| 自動測量 | 利用*的測量輕松地總結(jié)您的設(shè)計效果，這些測量結(jié)果包括：頻率、周期、脈沖寬度、占空比以及邊沿計數(shù)。 |
| 拖放觸發(fā)器 | 通過簡單而直觀的觸發(fā)器設(shè)置快速隔離事件。觸發(fā)器包括：通道邊沿、通道值、總線值、多群組值、毛刺、設(shè)置和保持違例，或者“在任何情況下觸發(fā)”（Trigger on Anything）。 |
