對于RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測量，目前有多種方法，但絕大部分的測量方法都非常煩瑣，特別是制樣那更是復(fù)雜，且時(shí)間很長，又污染環(huán)境。而X熒光分析法雖然準(zhǔn)確度較差，但它分析速度快、操作簡單、無污染、制樣方便或根本無需制樣，能對絕大部分產(chǎn)品作出正確判定，而少量不能判定的產(chǎn)品再用其他方法，從而達(dá)到先篩選的目的，使測量方便了許多。所以X熒光分析法作為RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素測量的篩選法，得到*所有國家的確認(rèn)。如我國*近頒布了六個(gè)有關(guān)RoHS的檢測方法標(biāo)準(zhǔn)，其*個(gè)標(biāo)準(zhǔn)就是：SN/T 2003.1-2005 《電子電氣產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、鉻、溴的測定 *部分：X射線熒光光譜定性篩選法》。對每一個(gè)需要測量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的單位，X熒光分析儀是*的。
　　DM2300型X熒光分析儀是本公司諸多X熒光分析儀中一款專門針對RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的測量而設(shè)計(jì)開發(fā)的產(chǎn)品。它采用X光管激發(fā)，光管高壓的電壓和電流連續(xù)可調(diào)，具有多個(gè)濾色片和準(zhǔn)直器并可自動(dòng)轉(zhuǎn)換，能使儀器達(dá)到的激發(fā)效率、的計(jì)數(shù)率和的峰背比，從而有*的精度和很小的檢出限；它采用高分辨率的PIN半導(dǎo)體探測器，有效避免元素的相互干擾；它采用內(nèi)標(biāo)方法及具有自主知識產(chǎn)權(quán)的分譜技術(shù)，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析樣品；它的樣品室體積達(dá)480 mm×350 mm×125mm，能測量大件物品；它的設(shè)計(jì)對屏蔽防護(hù)*，無三廢公害；其測量準(zhǔn)確度及檢出限達(dá)到進(jìn)口同類儀器的水平，而價(jià)格只是進(jìn)口同類儀器的幾分之一，特別適合我國國情。
　　憑借著本公司數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗(yàn)，憑借著本公司數(shù)十年在X熒光分析領(lǐng)域的良好口碑和重要地位，我們相信：定將得到廣大需要測量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、首飾等中有害元素及無鹵化中鹵素的單位的認(rèn)可，成為國外同類產(chǎn)品的替代品，為我國的檢測事業(yè)和環(huán)境保護(hù)作出一定的貢獻(xiàn)。