rohs檢測(cè)儀ROHS熒光光譜儀工廠,ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。
應(yīng)用領(lǐng)域:RoHS檢測(cè)分析(電子電器、塑膠塑料、涂料油墨、通訊線纜、手機(jī)配件、膠粘制品、皮革紡織、兒童玩具等)
儀器的保養(yǎng)和清潔
1、表面與外殼的清潔。儀器可用微濕的抹布進(jìn)行表面清潔,不可用堿性或酸性清潔劑,應(yīng)使用中性清潔劑
2、內(nèi)部與探測(cè)器的清潔,在清潔過程中,必須注意不要將異物掉入測(cè)試窗口中,測(cè)試窗口應(yīng)該保持清潔,同時(shí)不能使用硬物接觸測(cè)試窗口內(nèi),防止損傷探測(cè)器窗口和X光管窗口。(探測(cè)器窗口和X光管窗口損壞將不予保修,并且更換價(jià)格昂貴。因此,在清潔和使用中一定要小心愛護(hù))。
3、開合蓋子需要注意什么問題儀器上禁止擺放茶杯,重物等與測(cè)試無關(guān)的物品,以免污染或損傷儀器。
工作原理:
X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,相對(duì)簡(jiǎn)單。
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測(cè)定角度,即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng):
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長(zhǎng);d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角,利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng),從而獲得待測(cè)元素的特征信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器,通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量:
Q=kE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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