能量色散型X射線熒光光譜儀 Epsilon 3XLE構(gòu)建在其前代產(chǎn)品的經(jīng)驗(yàn)和成功的基礎(chǔ)之上,采用了激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)的成果。該儀器運(yùn)行穩(wěn)定,操作簡(jiǎn)便,對(duì)整個(gè)元素周期表中元素均具備的分析性能。Epsilon 3XLE 光譜儀依靠各種軟件模塊是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠、高度靈活的分析工具,適用于各種應(yīng)用場(chǎng)合。
主要特點(diǎn):能量色散型X射線熒光光譜儀 Epsilon 3XLE
◆通過(guò)智能激發(fā)和檢測(cè)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度
◆市場(chǎng)*的輕元素性能
◆確保X射線安全
◆*的數(shù)據(jù)可追溯性
◆符合法規(guī)
◆在線支持
◆高度靈活的分析工具,適用于各種應(yīng)用場(chǎng)合:Epsilon 3XLE - 具有改進(jìn)的和擴(kuò)展的輕元素功能(C - Am),用于實(shí)現(xiàn)更高的樣品生產(chǎn)量
◆Epsilon 3XLE 中配備的SDDultra硅漂移探測(cè)器甚至可以分析超輕元素,例如碳、氮和氧。
◆Epsilon3XLE 光譜儀可以處理類型廣泛的樣品,包括固體、稀松或壓片粉末、液體和濾片,重量從幾毫克到更大的實(shí)體樣品不等。
主要應(yīng)用:
◆廣泛應(yīng)用于石化產(chǎn)品、塑料和聚合物、環(huán)境、醫(yī)藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個(gè)行業(yè)領(lǐng)域。
主要專業(yè)軟件:
◆Omnian - *的無(wú)標(biāo)樣分析軟件;針對(duì)多種不同類型未知材料樣品,實(shí)現(xiàn)快速可靠的定量分析。
◆Oil-Trace - 石化行業(yè)軟件;于解決對(duì)石油和石化進(jìn)行分析時(shí)常面臨的挑戰(zhàn)的創(chuàng)新軟件包。
◆Stratos - 涂層厚度軟件;Stratos模塊采用的算法可同步確定化學(xué)成分和分層材料的厚度。
◆FingerPrint - “指紋識(shí)別”軟件;采用快速的光譜數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,可用于更全面的診斷分析的常規(guī)成分測(cè)定。
XRF的優(yōu)點(diǎn):
◆非破壞性
◆非常適合分析固體、液體和粉末狀樣品
◆簡(jiǎn)單、快速、安全的樣品制備
◆精確且高度可再現(xiàn)的數(shù)據(jù)
◆無(wú)需每日重新校準(zhǔn)
◆廣泛的分析含量范圍(從幾 ppm 到 )
◆極低的運(yùn)行成本
◆準(zhǔn)確、精密且可靠的分析