產(chǎn)品簡介XperRam Photocurrent光電流成像光譜系統(tǒng)
Nanobase的光電流成像系統(tǒng)XperRam Photocurrent Mapping system 利用了顯微成像掃描技術(shù),對樣品表面做一個快速掃描。產(chǎn)生的光電流信號通過探針引到電流源表,再顯示在軟件界面,做成成像圖顯示樣品表面電流分布。
XperRam Photocurrent光電流成像光譜系統(tǒng)光電流成像系統(tǒng)Photocurrent Mapping System 又稱為掃描光電流顯微成像系統(tǒng),用來檢測材料光電流強度分布的設(shè)備,主要用來測量光電材料的光電響應(yīng)信號和表征材料的光電特征。XperRam Photocurrent Mapping system 光電流成像系統(tǒng)將光電材料對于光信號響應(yīng)的不均勻性以可視化和量化的方式顯示出來。該系統(tǒng)可以研究光電探測器的量子效率,器件的電阻分布特征,研究太陽能電池光生電流的不均勻性,研究器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性,以及光電材料界面,半導(dǎo)體結(jié)區(qū)的品質(zhì)分布等。
整個系統(tǒng)的個構(gòu)成如下圖,包含光源(激光器或者連續(xù)光源),顯微鏡,激光掃描振鏡,數(shù)字源表,探針臺和計算機軟件等。激光通過掃描振鏡,擴束鏡,經(jīng)過顯微鏡聚焦到樣品表面,激光激發(fā)產(chǎn)生光電效應(yīng)(電流),電流信號通過探針引出至電流源表,再讀出至電腦軟件,掃描時,振鏡是通過偏振光控制器控制,激光的光斑再樣品的XY方向上掃描移動,軟件記錄每一個激光聚焦光斑的位置和其對應(yīng)的電流值,在軟件的一側(cè),同步描繪出光電流成像圖,顯示了樣品的電流分布。