產(chǎn)品簡介高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)
Nanobase共聚焦拉曼成像光譜儀系統(tǒng)采用透射式光路設計,提高了產(chǎn)品的靈敏度和穩(wěn)定性。*的振鏡掃描技術能夠在臺面固定不動的情況下實現(xiàn)快速二維成像掃描。該技術在聯(lián)用光電流成像系統(tǒng)載臺時優(yōu)勢明顯,并且可擴展增加熒光壽命檢測系統(tǒng)。
XperRam C series是基礎款,采用一個532nm激光器激發(fā),集成了奧林巴斯顯微鏡,可以測量樣品的Raman/PL的光譜信號和mapping(Image)圖像。光譜信號強,掃描速度快,。
產(chǎn)品特點高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)
- 具有優(yōu)異的掃描分辨率和重復性
(激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復性< 0.1 μm)
- 體相全息光柵光譜儀(光透過率>90%,比反射式光柵高30%,信號傳輸效率更高)
- 具有Raman/PL等多種測量模式,可擴展為光電流成像功能
- 結(jié)構(gòu)緊湊,模塊化設計
- 掃描速度快,掃描范圍大200µm x 200µm范圍內(nèi)高速成像 & 2D Mapping
應用領域
石墨烯,二維材料,生物樣本,半導體工業(yè),碳納米管,碳材料,太陽能電池,儲能材料,納米纖維分布,探測器光電性能檢測,晶圓體分析,制藥分析,納米材料檢測,生物細胞成像,微塑料檢測,金剛石微粉檢測。
基本參數(shù)
激光器 |
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顯微鏡 |
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掃描模塊 |
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探測器 |
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光譜范圍 |
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光柵選擇 |
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其它附加選項 |
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