產(chǎn)品介紹:透射電鏡HD-2700
HD-2700是一款200kV的場(chǎng)發(fā)射球差校正掃描透射電鏡。相比于普通的透射電鏡,HD-2700采用球差校正技術(shù),大大減小了透鏡球差對(duì)分辨率的影響,從而可以實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀察。同時(shí),HD-2700是目前少數(shù)以?huà)呙柰干洌⊿TEM)功能為主的透射電鏡,大會(huì)聚角的STEM功能配合場(chǎng)發(fā)射電子槍和球差校正技術(shù)可以使HD-2700獲得亞納米級(jí)的電子束,使得原子級(jí)分辨率的圖像觀察和元素分析成為了可能,大大提高了電鏡的觀察和分析能力。
主要特點(diǎn):透射電鏡HD-2700
高分辨觀察
利用金顆粒保證0.144nm分辨率DF-STEM像(標(biāo)準(zhǔn)型)。
大束流分析
約為非校正的STEM探針電流的10倍,可以進(jìn)行高速、高靈敏度能譜分析,可以在更短的時(shí)間內(nèi)獲得元素的面分布圖,使得檢測(cè)微量元素成為可能。
簡(jiǎn)化的操作
提供了的GUI自動(dòng)調(diào)節(jié)球差校正器
整體的解決方案
樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數(shù)據(jù)獲得和終分析
多種評(píng)價(jià)和分析功能可選
可同時(shí)獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實(shí)時(shí)元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時(shí)獲得);可以同時(shí)觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進(jìn)行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))等。
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200x - 10,000,000x | |
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