Xevo TQ-S Micro質(zhì)譜儀
創(chuàng)新性設(shè)計制造出占地面積極小的串聯(lián)四極桿儀器，可幫助您在廣泛的動態(tài)范圍內(nèi)實現(xiàn)*的低含量定量分析。
Xevo TQ-S Micro質(zhì)譜儀超乎想象的耐用性及靈敏度
創(chuàng)新性設(shè)計制造出占地面積極小的串聯(lián)四極桿儀器，可幫助您在廣泛的動態(tài)范圍內(nèi)實現(xiàn)*的低含量定量分析。
- Xevo TQ-S Micro質(zhì)譜儀優(yōu)異的耐用性，實現(xiàn)復雜基質(zhì)中低含量分析物的重現(xiàn)性檢測
- 采用高速采集速率，可靠定量更多分析物
- 配備Xtended Dynamic Range（XDR™）檢測器，實現(xiàn)簡單易用的方法轉(zhuǎn)換與高靈敏度
- 揭示樣品復雜性，通過RADAR™改進方法開發(fā)
采用ZSpray™幾何結(jié)構(gòu)離子源，為您帶來優(yōu)異性能，有效減少中性分子，引導離子通過樣品錐孔進入分析器。Xevo® TQ-S Micro采用的StepWave™離子導入系統(tǒng)設(shè)計旨在應對現(xiàn)代實驗室中高樣品通量和復雜基質(zhì)帶來的各種挑戰(zhàn)。
系統(tǒng)中的中性分子和氣體載量可顯著降低，使離子能夠更有效傳輸進入四極桿質(zhì)量分析器，進一步提升靈敏度和穩(wěn)定性。 此外，Xevo TQ-S Micro業(yè)界*的緊湊型設(shè)計也保證了少的面積占用。
Xccelerated Ion Transfer（XIT™）電子裝置采用SpaceWire技術(shù)，使儀器能夠以始終如一的性能進行高速數(shù)據(jù)采集。新一代T-Wave™碰撞室采集速率可達每秒500個MRM通道，減少相互作用的同時有效維持了信號強度。提升后的MS全掃描速度可達20,000 Da/s，能夠在進行MS全掃描和MS/MS采集（RADAR和PICS）快速切換的同時有效降低對工作周期的影響。
