高純鍺探測(cè)器
ORTEC公司高純鍺HPGe 實(shí)驗(yàn)室能譜分析系統(tǒng)是德國(guó)ICX Radiation 生產(chǎn)的高靈敏能譜分析系統(tǒng),系統(tǒng)包括HPGe檢測(cè)器、杜瓦瓶、鉛室、刻度源、個(gè)人計(jì)算機(jī)、數(shù)字化多道分析器和系統(tǒng)軟件,一體化防水設(shè)計(jì),重量輕,靈敏度高,無(wú)源自動(dòng)穩(wěn)譜,可巡測(cè)及快速測(cè)量,數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)于內(nèi)存中,也可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)入個(gè)人電腦對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行回放。
全面多樣的探測(cè)器類型,適應(yīng)不同用戶的實(shí)際需求:
1.P型探測(cè)器.GEM系列
2.N型反向電極探測(cè)器GMX系列
3.優(yōu)化型*探測(cè)器GEM-C系列
4.優(yōu)化型超大平面探測(cè)器GEM-S/SP系列
5.低能平面探測(cè)器GLP系列
6.井型HPGE探測(cè)器GWL系列
P型標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器:
能量范圍:40Kev-10Mev
探測(cè)器效率可達(dá)150%
良好的分辨率
可定制晶體尺寸
多種制冷結(jié)構(gòu),Streamline,PopTop,機(jī)械制冷
保證值:相對(duì)效率1332Kev,峰康比1332Kev,分辨率122Kev,1332,峰型比,十分之一高度比半寬高度
N型反向電極探測(cè)器:
能量范圍:3Kev-10Mev
標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器效率可達(dá)
超薄的表面死層
耐中子損傷用戶可以自行修復(fù)
多種制冷結(jié)構(gòu),Streamline,PopTop,機(jī)械制冷
保證值:相對(duì)效率1332Kev,峰康比1332Kev,分辨率122Kev,1332,峰型比,十分之一高度比半寬高度
優(yōu)化型*型探測(cè)器:
能量范圍:3Kev起
標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器效率可達(dá)175%
超薄的前端死層
多種制冷結(jié)構(gòu),Streamline,PopTop,機(jī)械制冷
保證值:晶體直徑及厚度,5.9Kev,122Kev,1332Kev分辨率,峰康比1332Kev
低能平面探測(cè)器:
能量范圍:3Kev-300kev
有效面積從30mm²-1000mm²
支持PopTop結(jié)構(gòu)
可提供高達(dá)36mm直徑的探測(cè)器
井型高純鍺探測(cè)器:
能量范圍:10Kev-10Mev
有效探測(cè)器面積450cc
*的離子注入盲井、超薄死層
在井底部保證不小于5mm的有效厚度
接近4-pi的立體角
標(biāo)準(zhǔn)的井尺寸:15.5mm直徑,40mm深度
保證值:晶體有效體積,122Kev,1332Kev分辨率,井尺寸
制冷器:
ORTEC公司提供不同類型的制冷方式,X-COOLER III電制冷、MOBIUS液氮回凝制冷器、ICS集成電制冷
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