描述ICP等離子體發(fā)射光譜儀PE
電感耦合等離子體 (ICP) 光學發(fā)射光譜法 (OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的*的強大技術(shù)。
進樣系統(tǒng):ICP等離子體發(fā)射光譜儀PE
該儀器出廠時已設(shè)定分析就緒的進樣參數(shù),所以用戶不再需要優(yōu)化泵速度、等離子體射頻功率和氣體流速。
一個 3 通道、12 轉(zhuǎn)子的蠕動泵,帶有*的排液監(jiān)測傳感器,提供順暢、低噪音的信號和安全的操作
插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸
組合式進樣系統(tǒng)易于重組和維護
增強基質(zhì)耐受 (EMT)炬管設(shè)計改善了高基質(zhì)樣品的操作
光學排液監(jiān)測傳感器可監(jiān)測來自霧化室的排液情況,在發(fā)現(xiàn)不正常排液的情況下可自動熄滅等離子體炬焰,從而節(jié)約樣品、氣體和電力
提供一系列的 CETAC 自動進樣器,從而能夠優(yōu)化 iCAP 7200 ICP-OES 進行自動化、無人照看的分析
等離子體和射頻發(fā)生器:
雙向(垂直和水平)等離子體觀測
光學系統(tǒng):
光學系統(tǒng)的低吹掃氣體流量有助于減少運行費用
高光傳輸效率的光學設(shè)計可提供優(yōu)異的靈敏度
高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測準確度
具有熱切斷設(shè)計的恒溫控制多色器增強了*穩(wěn)定性,可在不再進行校準的情況下延長分析運行
檢測器:
電荷注入裝置 (CID) 檢測器: CID-86
可以在 175 到 847 nm 范圍內(nèi)自由連續(xù)選擇波長
具備抗鄰近像素暈光效應的功能,減少了復雜樣品基質(zhì)引起的假陽性結(jié)果
非破壞性讀取和隨機存取的集成改善了信背比和檢測限