YDO-DM CCD/CMOS光電性能測(cè)試系統(tǒng)遠(yuǎn)大光學(xué)（YDO）基于研發(fā)團(tuán)隊(duì)十余年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)推出的全新的CCD/CMOS 光電性能測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)由四部分組成：

Ø YDO- DM -SPC  相對(duì)光譜響應(yīng)度測(cè)試儀

Ø YDO- DM -MTF 傳遞函數(shù)測(cè)試儀

Ø YDO- DM -REP   /相對(duì)輻射響應(yīng)測(cè)試儀  

Ø YDO- DM -QED  標(biāo)準(zhǔn)輻射計(jì)    

YDO-DM CCD/CMOS光電性能測(cè)試系統(tǒng)該測(cè)試系統(tǒng)主要用于測(cè)試圖像傳感器線陣、面陣CCD/CMOS的光電輻射響應(yīng)性能，如光譜響應(yīng)度、單色波長(zhǎng)MTF或全色光的MTF、輻射響應(yīng)度、信噪比、動(dòng)態(tài)范圍、響應(yīng)非線性、響應(yīng)非均勻性等。

系統(tǒng)特點(diǎn)

該系統(tǒng)由四個(gè)測(cè)試組件組成，每個(gè)組件皆可以單獨(dú)工作，根據(jù)您的需求可以全系統(tǒng)定制，配套成全套測(cè)量系統(tǒng)，也可以根據(jù)需要定制其中任意一個(gè)組件。各組件的主要特點(diǎn)如下。

Ø YDO-DM-SPC 相對(duì)光譜響應(yīng)度測(cè)試儀，主要用于測(cè)量CCD./CMOS以及單元探測(cè)器相對(duì)光譜響應(yīng)度的測(cè)試儀器 ， 采用高穩(wěn)定的光源和高性能單色儀產(chǎn)生高功率的單色光。主要特點(diǎn)如下。

l 光譜分辨率高， 2nm；

l 波長(zhǎng)重復(fù)性好：小于±0.5nm；

l 穩(wěn)定度：0.2%/2h；

l 光譜范圍：350nm~1050nm。

Ø YDO-DM-MTF 傳遞函數(shù)測(cè)試儀，主要用于測(cè)試CCD/CMOS的傳函。采用具有高傳函的高級(jí)光學(xué)鏡頭、具有良好朗伯特性的照明光源、根據(jù)需求定制的分劃板。主要特點(diǎn)如下。

l 標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)鏡頭傳函高：0.66@150lp/mm；

l 小像元尺寸成像器件：3.5μm；

l 照明光源穩(wěn)定度高：0.2%/h；

l 根據(jù)需求配置光源：?jiǎn)紊猓▎紊獿ED）、白光（3000K或6500K）。

Ø YDO-DM-REP /相對(duì)輻射響應(yīng)測(cè)試儀，主要用于測(cè)試CCD/CMOS的輻射響應(yīng)度、相對(duì)響應(yīng)度、響應(yīng)非均勻性、信噪比、動(dòng)態(tài)范圍、響應(yīng)非線性等參量。采用高穩(wěn)定的等色溫連續(xù)可調(diào)光源作為輻射測(cè)試光源。主要特點(diǎn)如下。

l 光譜范圍：350nm~1050nm

l 光源的穩(wěn)定性：0.2%/h；

l 光源亮度的重復(fù)性：小于1%；

l 輻射動(dòng)態(tài)范圍：10000:1；

l 小照度調(diào)節(jié)量：滿(mǎn)量程的0.1%