B-100YP美國UVP綠光表面檢查燈
可快速檢查加工表面的瑕疵，灰塵，異物等小至10微米的瑕疵、小顆粒。表面晶粒檢查燈應(yīng)用：LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導(dǎo)體、玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查。
B-100YP表面檢查燈可快速檢查加工表面的瑕疵，灰塵，異物等小至10微米的瑕疵、小顆粒，高強(qiáng)度抗沖擊外殼由有Cool-Touch阻熱材料制造，可長時間工作不產(chǎn)生高溫。
表面晶粒檢查燈應(yīng)用：LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導(dǎo)體、玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查
B-100YP美國UVP綠光表面檢查燈主要特點(diǎn)
• 檢查精密加工表面的瑕疵、污點(diǎn)、異物等
• 快速無損檢測小至10微米的瑕疵、小顆粒
• 有效地探測出生產(chǎn)過程是早期的污物，節(jié)省生產(chǎn)時間及不必要的成本
• 100瓦高強(qiáng)度汞燈發(fā)出543,574及576nm波長光譜
• 黃色濾色片濾掉波長小于500nm的光線，防止產(chǎn)生熒光干擾
• 高對比度的光線能清晰檢測到精細(xì)的表面粒子
• B-100Y是鋁合金外殼; B-100YP帶塑料外殼
• 燈頭易于操作
B-100Y and B-100YP
These models feature a yellow filter which blocks wavelengths shorter than 500nm and produces three strong mercury lines at 543, 574 and 576nm. The high contrast light is produced for fine surface particle detection. Particles down to 10 microns are routinely visible with this lamp. B-100Y is built with the aluminum housing; B-100YP with a plastic housing. These lamps are excellent for semiconductor wafer inspection as most photoresist absorption occurs below 450nm.
B-100Y和B-100YP
黃色濾光片能濾掉波長小于500nm的光線，產(chǎn)生543nm、574和576nm的光線。高對比度的光線可檢測表面小于10微米的顆粒。b-100Y鋁合金外殼，B-100YP帶塑料外殼。
B-100YP美國UVP綠光表面檢查燈規(guī)格
UV光源：365nm長波紫外線
功率：100W
濾色片：黃光
尺寸：248X152mm
重量：5.67kg
電源線：2.44米
B-100YP美國UVP表面檢查燈的型號選擇：
| 型號 | 描述 | 貨號 |
| B-100A | 100W，高強(qiáng)度長波紫外燈，230V | 95-0044-02 |
| B-100A/R | 100W，高強(qiáng)度長波紫外燈，6.1米電源線，115V | 95-0044-04 |
| B-100AP | 100W，高強(qiáng)度長波紫外燈，Cool-Touch阻熱外殼，230V | 95-0127-02 |
