TP200
具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭,它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu),比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高
TP200與SCR20和PI 200-3配用
TP200系統(tǒng)組件包括:
TP200或TP200B測(cè)頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動(dòng)公差)
TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定過(guò)行程測(cè)力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)或LF(低測(cè)力)
PI 200-3測(cè)頭接口
SCR200測(cè)針交換架
還有一種EO模塊(長(zhǎng)過(guò)行程),過(guò)行程測(cè)力與SF相同,但工作范圍更大,并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。
特性與優(yōu)點(diǎn)
應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量
零復(fù)位誤差
無(wú)各向同性影響
六向測(cè)量能力
測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm(GF測(cè)針)
快速測(cè)頭模塊交換,無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
壽命 >1000萬(wàn)次觸發(fā)
TP200 / TP200B測(cè)頭本體
TP200
TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。
請(qǐng)注意:我們不*TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測(cè)針。