.產(chǎn)品簡介

      HD6000高壓異頻介質(zhì)損耗測試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或?qū)嶒炇覝y試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損測試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz52.5Hz、45Hz55Hz、60Hz、57.5Hz62.5Hz、55Hz65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開了工頻電場對測試的干擾，從根本上解決了強電場干擾下準(zhǔn)確測量的難題。同時適用于全部停電后用發(fā)電機供電檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油介質(zhì)損耗。

     HD6000高壓異頻介質(zhì)損耗測試儀儀器主要具有如下特點：

  1.超大液晶中文顯示

      操作簡單，儀器配備了的全觸摸液晶顯示屏，超大全觸摸操作界面，每過程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點擊一下就能完成整個過程的測量，是目前非常理想的智能型介損測量設(shè)備。

    2.海量存儲數(shù)據(jù)

       儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲器，保存數(shù)據(jù)200組，能將檢測結(jié)果按時間順序保存，隨時可以查看歷史記錄，并可以打印輸出。

    3.科學(xué)先進的數(shù)據(jù)管理

       儀器數(shù)據(jù)可以通過U盤導(dǎo)出，可在任意一臺PC機上通過我公司軟件，查看和管理數(shù)據(jù)。

    4.多種測試模式

       儀器使用內(nèi)高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)的方式測試，正接法、反接法、自激法。

    5.CVT測試一步到位

       該儀器還可以測試全密封的CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的介損和電容量。

    6.不拆高壓引線測量CVT

       儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。

    7.CVT反接屏蔽法測量C0

       儀器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。

    8.高速采樣信號

       儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制，輸出電壓連續(xù)可調(diào)。

    9.多重保護安全可靠

       儀器具備輸入電壓波動、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護措施，保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測功能，確保不接地設(shè)備不允許升壓。

二.工作原理

       在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖2所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成，被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號處理器運用數(shù)字化實時采集方法，通過矢量運算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。

三.技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品選型：

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氣隙放電造成電樹枝的發(fā)展?，F(xiàn)代的生產(chǎn)工藝盡管可以消除交聯(lián)電纜生產(chǎn)線中某些宏觀的氣隙，但仍有1～10μm或少量的20～30μm的氣隙形成的微觀多孔結(jié)構(gòu)。多孔結(jié)構(gòu)中的放電形式主要以電暈放電為主。通道中的放電所產(chǎn)生的氣體壓力增加，導(dǎo)致了樹枝的擴展和形狀的變化。
　　3）場致發(fā)射效應(yīng)導(dǎo)致樹枝性放電。在高電場作用下，電極發(fā)射的電子由于隧道效應(yīng)注入絕緣介質(zhì)，電子在注入過程中獲得足夠的動能，使電子不斷地與介質(zhì)碰撞引起介質(zhì)破壞，導(dǎo)致樹枝放電。
　　4）缺陷。缺陷主要是導(dǎo)體屏蔽上的節(jié)疤和絕緣屏蔽中的毛刺以及絕緣內(nèi)的雜質(zhì)和空穴。這些缺陷使絕緣內(nèi)的電場集中，局部場強提高。引起場致發(fā)射，導(dǎo)致樹枝性放電。
1．2　水樹枝
　　主要是由于水分浸入交聯(lián)聚乙烯絕緣，在電場作用下形成樹枝狀物。水樹枝的特點是引發(fā)樹枝的空隙含有水分，且在較低的場強下發(fā)生。水樹枝的產(chǎn)生，將會使介質(zhì)損耗增加，絕緣電阻和擊穿電壓下降，電纜的壽命明顯縮短。目前國內(nèi)外對水樹枝的生長研究尚不完善。一般認為，水樹枝的發(fā)展過程有以下幾種形式：
　　1）剩余應(yīng)變使水樹枝增長。當(dāng)電纜在外加電壓下，若絕緣中含有水分，導(dǎo)體附近的絕緣材料中剩余的應(yīng)變就會增加，而應(yīng)變較大的局部區(qū)域便會生成水樹枝。
　　2）電場下的化學(xué)作用發(fā)展了水樹枝。
　　3）電泳與擴散力的作用使水樹枝生長。介質(zhì)電泳可以認為是不帶電荷的，但是已經(jīng)極化的粒子或分子在畸變的電場中運動，若絕緣中含有帶水分的雜質(zhì)，這些雜質(zhì)會向?qū)щ娋€芯附近的高電場區(qū)聚集。這一區(qū)域的溫度相對偏高，水分因此而膨脹，形成較大的壓力，使間隙擴大，引起水樹枝的擴大和發(fā)展。
　　電樹枝往往在絕緣內(nèi)部產(chǎn)生細微開裂，形成細小的通道，并在放電通道的管壁上產(chǎn)生放電后的碳化顆粒。水樹枝的產(chǎn)生，將會使介質(zhì)損耗增加，絕緣電阻和擊穿電壓下降。因此，電纜中的電樹枝和水樹枝對電纜的電氣性能將會帶來嚴重的故障隱患。 1n
2　電纜試驗
　　為了保證電纜安全可靠運行，有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)對電纜的各種試驗做了明確的規(guī)定。主要試驗項目包括：測量絕緣電阻、直流耐壓和泄漏電流。其中測量絕緣電阻主要是檢驗電纜絕緣是否老化、受潮以及耐壓試驗中暴露的絕緣缺陷。直流耐壓和泄漏電流試驗是同步進行的，其目的是發(fā)現(xiàn)絕緣中的缺陷。但是近年來國內(nèi)外的試驗和運行經(jīng)驗證明：直流耐壓試驗不能有效地發(fā)現(xiàn)交聯(lián)電纜中的絕緣缺陷，甚至造成電纜的絕緣隱患。德國Sechiswag公司在1978～1980年41個回路的10 kV電壓等級的XLPE電纜中，發(fā)生故障87次；瑞典的3 kV～24．5 kV電壓等級XLPE電纜投運超出9 000 km，發(fā)生故障107次，國內(nèi)也曾多次發(fā)生電纜事故，相當(dāng)數(shù)量的電纜故障是由于經(jīng)常性的直流耐壓試驗產(chǎn)生的負面效應(yīng)引起。因此，國內(nèi)外有關(guān)部門廣泛推薦采用交流耐壓取代傳統(tǒng)的直流耐壓。
IEC62067／CD要求對于220 kV電壓等級以上的交聯(lián)電纜不允許直流南昌市高壓異頻介質(zhì)損耗測試儀報價南昌市高壓異頻介質(zhì)損耗測試儀報價耐壓。
　　研究表明，直流耐壓試驗時對絕緣的影響主要表現(xiàn)在：
　　1）電纜的局部絕緣氣隙部位由于游離產(chǎn)生的電荷在此形成電荷積累，降低局部電場強度，使這些缺陷難以發(fā)現(xiàn)。
　　2）試驗電壓往往偏高，絕緣承受的電場強度較高，這種高電壓對絕緣是一種損傷，使原本良好的絕緣產(chǎn)生缺陷，