功能特點
1、HD-500G三相電容電感測試儀在測量三相電容器時可三相同時測試，省去了反復拆線、接線的繁瑣工序。
2、HD-500G三相電容電感測試儀可在不拆線情況下測量成組并聯(lián)電容器的單個單相電容及同時測量各種連接類型的三相電容，同時本儀器也能測量各種電抗器的電感量，還可以做為工頻電流測試儀使用，一機三用，滿足現(xiàn)場的多種使用；
3、測量時本儀器顯示測量電容值或電感值的同時還可以顯示測量的電壓、電流、功率、頻率、阻抗、相位角等數(shù)據(jù)，以便更好的分析試品的好壞；
4、儀器采用800×480大屏幕真彩色高亮液晶顯示屏，在陽光下也能清晰觀察，中文菜單提示，操作簡便；
5、儀器自帶高速微型熱敏打印機：可打印測量及歷史數(shù)據(jù)；
6、儀器內置大容量非易失性存儲器：可存儲200組測量數(shù)據(jù)；
7、儀器內置高精度實時時鐘功能：可進行日期及時間校準；
8、儀器試驗電源過流保護功能：電源輸出短路不會損壞儀器。
二：技術參數(shù)
1、輸出電壓：～2V、～15V
2、測量范圍：電容：0.01uF～2000uF
電感：1mH～10H
電流：50mA～10A
電壓：0～25V
3、測量精度：電容：±(1%+2字)
電感：±(1%+5字)
電流：±(1%+2字)
電壓：±(1%+2字)
4、工作電源：AC220V±10%
5、電源頻率：50±1Hz
6、儀器功率：150W
7、環(huán)境溫度：-10℃～50℃
8、環(huán)境濕度：≤85%RH
9、儀器重量：3kg
10、外形尺寸：320mm×240mm×130mm
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氣隙放電造成電樹枝的發(fā)展?，F(xiàn)代的生產工藝盡管可以消除交聯(lián)電纜生產線中某些宏觀的氣隙，但仍有1～10μm或少量的20～30μm的氣隙形成的微觀多孔結構。多孔結構中的放電形式主要以電暈放電為主。通道中的放電所產生的氣體壓力增加，導致了樹枝的擴展和形狀的變化。
3）場致發(fā)射效應導致樹枝性放電。在高電場作用下，電極發(fā)射的電子由于隧道效應注入絕緣介質，電子在注入過程中獲得足夠的動能，使電子不斷地與介質碰撞引起介質破壞，導致樹枝放電。
4）缺陷。缺陷主要是導體屏蔽上的節(jié)疤和絕緣屏蔽中的毛刺以及絕緣內的雜質和空穴。這些缺陷使絕緣內的電場集中，局部場強提高。引起場致發(fā)射，導致樹枝性放電。
1．2 水樹枝
主要是由于水分浸入交聯(lián)聚乙烯絕緣，在電場作用下形成樹枝狀物。水樹枝的特點是引發(fā)樹枝的空隙含有水分，且在較低的場強下發(fā)生。水樹枝的產生，將會使介質損耗增加，絕緣電阻和擊穿電壓下降，電纜的壽命明顯縮短。目前國內外對水樹枝的生長研究尚不完善。一般認為，水樹枝的發(fā)展過程有以下幾種形式：
1）剩余應變使水樹枝增長。當電纜在外加電壓下，若絕緣中含有水分，導體附近的絕緣材料中剩余的應變就會增加，而應變較大的局部區(qū)域便會生成水樹枝。
2）電場下的化學作用發(fā)展了水樹枝。
3）電泳與擴散力的作用使水樹枝生長。介質電泳可以認為是不帶電荷的，但是已經極化的粒子或分子在畸變的電場中運動，若絕緣中含有帶水分的雜質，這些雜質會向導電線芯附近的高電場區(qū)聚集。這一區(qū)域的溫度相對偏高，水分因此而膨脹，形成較大的壓力，使間隙擴大，引起水樹枝的擴大和發(fā)展。
電樹枝往往在絕緣內部產生細微開裂，形成細小的通道，并在放電通道的管壁上產生放電后的碳化顆粒。水樹枝的產生，將會使介質損耗增加，絕緣電阻和擊穿電壓下降。因此，電纜中的電樹枝和水樹枝對電纜的電氣性能將會帶來嚴重的故障隱患。 1n南昌市三相電容電感測試儀報價南昌市三相電容電感測試儀報價
2 電纜試驗
為了保證電纜安全可靠運行，有關的標準對電纜的各種試驗做了明確的規(guī)定。主要試驗項目包括：測量絕緣電阻、直流耐壓和泄漏電流。其中測量絕緣電阻主要是檢驗電纜絕緣是否老化、受潮以及耐壓試驗中暴露的絕緣缺陷。直流耐壓和泄漏電流試驗是同步進行的，其目的是發(fā)現(xiàn)絕緣中的缺陷。但是近年來國內外的試驗和運行經驗證明：直流耐壓試驗不能有效地發(fā)現(xiàn)交聯(lián)電纜中的絕緣缺陷，甚至造成電纜的絕緣隱患。德國Sechiswag公司在1978～1980年41個回路的10 kV電壓等級的XLPE電纜中，發(fā)生故障87次；瑞典的3 kV～24．5 kV電壓等級XLPE電纜投運超出9 000 km，發(fā)生故障107次，國內也曾多次發(fā)生電纜事故，相當數(shù)量的電纜故障是由于經常性的直流耐壓試驗產生的負面效應引起。因此，國內外有關部門廣泛推薦采用交流耐壓取代傳統(tǒng)的直流耐壓。
IEC62067／CD要求對于220 kV電壓等級以上的交聯(lián)電纜不允許直流耐壓。
研究表明，直流耐壓試驗時對絕緣的影響主要表現(xiàn)在：
