納米顆粒跟蹤分析儀儀器簡介：

Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計(jì)數(shù)分析得到。

Zetaview的特點(diǎn) - 全自動(dòng)和無源穩(wěn)定性

自動(dòng)校準(zhǔn)程序會(huì)持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設(shè)計(jì)提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。有3種測(cè)量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

• 自動(dòng)掃描，多可達(dá)100個(gè)子體積；

• 自動(dòng)聚焦；

• 小巧，便于攜帶；

• 防震動(dòng)；

• 光源從紫外線到紅光；

• 插入式樣品池；

納米顆粒跟蹤分析儀理論

平移擴(kuò)散常數(shù)可通過直接觀測(cè)待測(cè)顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)計(jì)算得到。通過測(cè)試電泳遷移率，可以得到zeta電位。

納米粒子跟蹤分析（NTA）和動(dòng)態(tài)光散射（DLS）

所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的低檢測(cè)限是0.5nm，對(duì)于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測(cè)限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對(duì)于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，zetaview可以非常圓滿的完成檢測(cè)任務(wù)。相反，對(duì)于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。

測(cè)量范圍

測(cè)量范圍依賴于樣品和儀器。對(duì)于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測(cè)下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測(cè)下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測(cè)量的粒徑上限為50微米，對(duì)于粒徑測(cè)量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)

顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對(duì)粒徑。可檢測(cè)的小濃度為10⁵粒子/cm³，大為10¹⁰粒子/cm³。對(duì)于200nm的顆粒，大體積濃度為1000ppm。