鍍層測(cè)厚儀-MAXXI 6

鍍層測(cè)厚儀MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測(cè)量及材料分析，確保產(chǎn)品質(zhì)量的*性和高品質(zhì)。
1、高分辨率的硅漂移器（SDD）
2、開槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)
3、8個(gè)準(zhǔn)直器4、USB接口與計(jì)算機(jī)連接

我們的鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。

鍍層測(cè)厚儀 MAXXI 6 配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙，針對(duì)較薄而復(fù)雜的樣品，具有*的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

鍍層測(cè)厚儀-MAXXI 6亮點(diǎn)

1、采用微聚焦X射線光管，實(shí)現(xiàn)高精度、高可靠性、測(cè)量時(shí)間短、購置成本低
2、采用高分辨率的硅漂移探測(cè)器（SDD），提供能量級(jí)別的佳效率，極低的檢出限（LOD）
3、多準(zhǔn)直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號(hào)產(chǎn)額，提高測(cè)量效率
4、開槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)，十分適合電路板或其他超大平板樣品
5、“USB接口”只需通過USB與計(jì)算機(jī)連接，無需額外的硬件或軟件
6、德國制造，符合高工程標(biāo)準(zhǔn)，堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)*可靠性
7、通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認(rèn)證，滿足高輻射安全標(biāo)準(zhǔn)