7200 ICP-OES等離子體光譜儀
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電感耦合等離子體-光學(xué)發(fā)射光譜法 (ICP-OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的*強大技術(shù)。
iCAP 7200 ICP-OES 具有以下特點和優(yōu)勢：
7200 ICP-OES等離子體光譜儀取樣系統(tǒng)：
- 分析就緒型樣品導(dǎo)入?yún)?shù)不需對泵速、等離子體 RF 功率和氣體流速進行優(yōu)化。
- 一個 3 通道、12 轉(zhuǎn)子的蠕動泵，帶有*的排液監(jiān)測傳感器，提供順暢、低噪音的信號和安全的操作。
- 插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸。
- 組合式進樣系統(tǒng)易于重新配置和維護。
- 增強基質(zhì)耐受 (EMT) 炬管設(shè)計改善了高基質(zhì)樣品的操作。
- 光學(xué)排液監(jiān)測傳感器可監(jiān)測來自霧化室的排液情況，在發(fā)現(xiàn)不正常排液的情況下可自動熄滅等離子體炬焰。
- 適用于一系列自動進樣器，從而可在無人照看的條件下自動分析。
等離子體和射頻發(fā)生器：
- 雙向（垂直和水平）等離子體觀測。
光學(xué)系統(tǒng)：
- 氣體凈化流速低，可降低運行成本。
- 高光傳輸效率的光學(xué)設(shè)計可提供優(yōu)異的靈敏度。
- 高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測準確度。
- 恒溫受控式多色器采用中斷加熱設(shè)計，可增強穩(wěn)定性并延長分析運行時間，不需重新校準。
檢測器：
- 包含電荷注入裝置 (CID) 檢測器 CID86。
- 可在 166-847 nm 的范圍內(nèi)自由連續(xù)選擇波長。
- 具備抗鄰近像素暈光效應(yīng)的功能，減少了復(fù)雜樣品基質(zhì)引起的假陽性結(jié)果。
- 非破壞性讀取和隨機存取的集成改善了信背噪音和檢測限。
