XJP-412J倒置金相顯微鏡采用無限遠光路設計，配有寬視場目鏡和無限遠長工作距離明/暗場物鏡、偏光裝置，是科研級大型金相顯微鏡，滿足各種理化分析和檢驗要求，可以配置顯微攝影攝像和圖像分析系統(tǒng)。儀器可用作金相檢驗、金相分析（鑒別和分析各種金屬和合金材料的組織結構，鑄件質量的鑒定，原材料的檢驗或材料處理后的金相組織分析），以及對表面噴涂、裂紋等進行研究工作。
XJP-412J倒置金相顯微鏡技術參數(shù)
技術規(guī)格 | ||
光學系統(tǒng) | 無限遠光學系統(tǒng) | |
觀察頭 | 45°鉸鏈式三目，可調瞳距（50mm-75mm） | |
目鏡 | 寬視場平場目鏡WF10×/22mm | |
| WF10×/20mm,帶0.1mm十字分劃板 | ||
物鏡 | 平場無限遠長工作距離明/暗場物鏡 5×/0.15（W.D.14.47mm） 10×/0.25（W.D.16.01mm） 20×/0.40（W.D.10.5mm） 50×/0.55（W.D.5.1mm） | |
轉換器 | 帶DIC插孔的大五孔轉換器 | |
平臺 | 機械移動式載物臺 | |
| 平臺尺寸: 255mm×170mm | ||
| 移動范圍：70mm×50mm | ||
| 低位XY調節(jié)手輪 | ||
調焦 | 微動同軸調焦，微動格值0.001mm | |
光源 | 落射Kohler照明，帶孔徑光欄和視場光欄 鹵素燈12V/100W,AC85V-230V，亮度連續(xù)可調節(jié) | |
偏光裝置 | 檢偏鏡可360°轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路 | |
濾色片 | 綠、藍、中性 | |
檢測工具 | 0.01mm測微尺 | |
可供附件 | 目鏡：WF15X/17mm、WF20X/12.5mm | |
物鏡：平場無限遠廠工作距離明/暗物鏡 80X/0.70（W.D.3.1mm）、100X/0.80（W.D.3.01mm） | ||
| 微分干涉（DIC）裝置 | ||
攝影裝置及CCD接口：0.5X、0.57X、0.75X 130萬、200萬、300萬、500萬 | ||
| 像素電子目鏡 | ||
| 彩色1/3寸CCD700條線 | ||
| 二維測量軟件 | ||
| 專業(yè)金相圖像分析軟件 | ||
| 測微目鏡 | ||
| 各款工業(yè)相機 | ||
