CX-9800（T）全譜直讀光譜分析儀優(yōu)勢(shì)：
1、第二代CCD全譜光譜儀制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）、通道不受限制 ；
2、引進(jìn)歐洲技術(shù)、同光譜儀技術(shù)同步，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)真空CCD全譜技術(shù)光譜儀的制造商；
3、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用
4、升級(jí)多基體方便，無(wú)須變動(dòng)增加硬件 ；
5、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)*性 ；
CX-9800(T)全譜直讀光譜分析儀優(yōu)勢(shì)：
1、第二代CCD全譜光譜儀制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）、通道不受限制 ；
2、引進(jìn)歐洲技術(shù)、同光譜儀技術(shù)同步，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)真空CCD全譜技術(shù)光譜儀的制造商；
3、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用
4、升級(jí)多基體方便，無(wú)須變動(dòng)增加硬件 ；
5、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)*性 ；
CX-9800(T)全譜直讀光譜分析儀
主要特點(diǎn)：
1、可測(cè)定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶(hù)需要選擇通道元素；
2、分析速度快捷，20秒內(nèi)測(cè)完所有通道的元素成分。針對(duì)不同的分析材料，通過(guò)設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線(xiàn)，使儀器用短的時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果；
3、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性及*穩(wěn)定性；
4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使真空室容積更小，抽真空速度不到普通光譜儀的一半；
5、自動(dòng)光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線(xiàn)掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線(xiàn)，與原存儲(chǔ)線(xiàn)進(jìn)行對(duì)比，確定漂移位置，找出分析線(xiàn)當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定；
