光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)/QE太陽能量子效率測(cè)試儀 /光電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試系統(tǒng)（美國菲瑞斯）
可以測(cè)試太陽能電池的光譜響應(yīng)，光電轉(zhuǎn)換效率，IPCE，量子效率等特性。包括各種太陽電池和探測(cè)器等光電材料，像各種半導(dǎo)體材料和各種有機(jī)電池及染料敏化電池等。系統(tǒng)包含交流法測(cè)試和直流法測(cè)試兩種測(cè)量方式，典型可測(cè)量波長范圍300-1100nm或更寬范圍，可進(jìn)行薄膜電池及多結(jié)電池測(cè)量；可進(jìn)行反射率和內(nèi)量
光譜響應(yīng)/QE太陽能量子效率 /光電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試系統(tǒng)
?光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)/QE太陽能量子效率測(cè)試儀 /光電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試系統(tǒng)(美國菲瑞斯)
可以測(cè)試太陽能電池的光譜響應(yīng)，光電轉(zhuǎn)換效率，IPCE，量子效率等特性。包括各種太陽電池和探測(cè)器等光電材料，像各種半導(dǎo)體材料和各種有機(jī)電池及染料敏化電池等。系統(tǒng)包含交流法測(cè)試和直流法測(cè)試兩種測(cè)量方式，典型可測(cè)量波長范圍300-1100nm或更寬范圍，可進(jìn)行薄膜電池及多結(jié)電池測(cè)量；可進(jìn)行反射率和內(nèi)量子測(cè)量；可擴(kuò)展為Mapping掃描功能等；整套系統(tǒng)計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，操作簡易方便。
一個(gè)交鑰匙工程，QE / IPCE 測(cè)量解決方案符合光伏測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，像 ASTM 和 IEC標(biāo)準(zhǔn)等，可廣泛應(yīng)用于科研院校、檢測(cè)機(jī)構(gòu)或者工廠研發(fā)領(lǐng)域。
規(guī)格參數(shù)：A
1.交鑰匙測(cè)試系統(tǒng)，*自動(dòng)化測(cè)試；
2.*一體化設(shè)計(jì)，操作簡單方便，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；
3. 精確的測(cè)量結(jié)果，符合ASTM E 1021-06和IEC 60904-8測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；
4.*的光源穩(wěn)定性和系統(tǒng)測(cè)試信噪比；
5.系統(tǒng)可擴(kuò)展制紫外/紅外光譜探測(cè)器輻射定標(biāo)；
6.系統(tǒng)可擴(kuò)展PL測(cè)試功能；
7.標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器：校準(zhǔn)數(shù)據(jù)NIST溯源，系統(tǒng)定標(biāo)范圍：200-1100nm (Si Detector，NIST traceable)
探測(cè)器校準(zhǔn)波長范圍：200-1100nm。系統(tǒng)可擴(kuò)展為200-1800nm或者遠(yuǎn)紅外波長；包括升級(jí)為紅外探測(cè)器光譜響應(yīng)輻射定標(biāo)或者紅外光電材料測(cè)試；
8.* 測(cè)量時(shí)間由300-1100nm，間隔10nm，測(cè)量不超過3分鐘.*的系統(tǒng)測(cè)試重復(fù)性：系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果可重復(fù)性：≤±0.15% (350–1100nm) ; 短路電流密度不重復(fù)性:≤±0.15%.
9.*QE系統(tǒng)測(cè)量波長范圍：300-1100nm；
10 .*測(cè)試功能：AC交流測(cè)試，DC直流測(cè)試；EQE外量子效率；SPV表面光電壓譜測(cè)試功能；其他功能為模塊化設(shè)置，可方便擴(kuò)展。
11.*含SPV表面光電壓譜模塊，具備可測(cè)量材料的SPV表面光電壓譜功能和I-t、V-t測(cè)試功能，同時(shí)具備SPV表面光電壓譜自動(dòng)數(shù)據(jù)采集并自動(dòng)繪制I-t、V-t曲線及SPV曲線；
12．可測(cè)量各種硅電池，各種半導(dǎo)體光電材料、銅銦鎵硒、碲化鎘、砷化鎵電池、Si類光電器件， a-Si 、CIS-Cell 、Multi-Cell、CdTe-multi layer 、Tandem-cell 、Mono-Cell、Organic-Cell、CIG-Cell、GaInP/GaAs/Ge、GaAs/CIS (thin film)、單晶、多晶硅、非晶微晶硅微納器件、多結(jié)疊層電池、聚能電池、染料敏化電池、新型鈣鈦礦電池、薄膜電池等等及其他有機(jī)或無機(jī)類光電器件或者探測(cè)器。
13.*可測(cè)量電池面積：1 x1mm2~200 x200mm2（根據(jù)用戶需求定制）
14.典型測(cè)量光斑：1×1mm，用戶可調(diào)；計(jì)算機(jī)自動(dòng)掃描，波長間隔用戶連續(xù)可調(diào)，具備用戶自定義功能，操作非常簡便。*光路照射方式：從上而下照射，以方便樣品擺放與測(cè)量，也可水平照射，方便適合各種電池。
15.測(cè)試光源：光譜分析用高穩(wěn)定性科研級(jí)石英鹵鎢燈光源，光學(xué)穩(wěn)定度≦0.15%，電源穩(wěn)定度：≦0.1%。光源光譜范圍：300-2600nm。燈源位置可微調(diào)。平滑的光譜曲線更適合做精細(xì)光譜分析。符合NIST測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
16.系統(tǒng)單色光產(chǎn)生方式：采取單色儀式分光系統(tǒng)，Czerny-Turner.
精度：0.007nm
掃描速率:1 to 1200nm/minute (with 1200g.mm grating).
雜散光：< 10-5 ；F常數(shù)≦3.9。
17.六位電動(dòng)濾光輪及3套級(jí)差濾光片消除二級(jí)衍射，自動(dòng)和手動(dòng)控制，可顯示目前位置。
18.*標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器：日本濱松。含校準(zhǔn)證書。*的的計(jì)量用標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器， 光譜校準(zhǔn)范圍：硅：200－1100nm；
