美國賽默飛FEI掃描電子顯微鏡SEM
材料科學(xué)的Prisma E SEM
適用于需要全面性能和易用性的多用戶實(shí)驗(yàn)室的完善的SEM。
美國賽默飛FEI掃描電子顯微鏡SEM
型號：Prisma E
材料科學(xué)的Prisma E SEM
適用于需要全面性能和易用性的多用戶實(shí)驗(yàn)室的完善的SEM。
新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型*的自動化技術(shù)相結(jié)合，可提供同類產(chǎn)品中完整的解決方案。它是需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作員界面的工業(yè)研發(fā)，質(zhì)量控制和故障分析應(yīng)用的理想選擇。Prisma E繼承了非常成功的Quanta SEM。
出色的成像
多用戶實(shí)驗(yàn)室需要顯微鏡才能在短時間內(nèi)產(chǎn)生帶有相關(guān)數(shù)據(jù)的高質(zhì)量圖像。Prisma E通過基于四極槍組件的強(qiáng)大成像系統(tǒng)滿足了這一需求，該系統(tǒng)在各種束能量和真空條件下都能提供出色的結(jié)果。在所有這些條件下，地形圖和成分圖都提供了必要的樣本信息。通過同時采集，該信息可隨時用于進(jìn)一步的解釋和分析。
輕松導(dǎo)航
查找感興趣的區(qū)域甚至查找樣品本身可能是一項(xiàng)繁瑣的工作……但在Prisma E上則并非如此。室內(nèi)導(dǎo)航攝像頭（Nav-Cam）提供了樣品架的詳細(xì)照片，使操作起來非常容易一個會話中包含多個樣本，然后一個個地導(dǎo)航到它們。在樣本中，只需單擊即可轉(zhuǎn)到感興趣的區(qū)域。導(dǎo)航攝像機(jī)圖像隨樣本一起旋轉(zhuǎn)，因此導(dǎo)航非常直觀。
樣品靈活性
如今的研究已經(jīng)超出了傳統(tǒng)金屬和涂層樣品的范圍，非導(dǎo)電材料，大或重樣品，臟樣品甚至濕樣品也需要進(jìn)行微觀尺度的研究。Prisma E具有三種成像模式–高真空，低真空和ESEM™–可以容納任何可用SEM中蕞廣泛的樣品。此外，Prisma E的腔室可容納大型樣品，并配備110x110 mm 5軸電動偏心鏡臺，傾斜范圍為105°，可從各個角度觀察樣品。
支持分析
Prisma E的分析室滿足了對元素（EDX，WDS）和晶體學(xué)（EBSD）樣品數(shù)據(jù)日益增長的需求，該分析室支持多個EDX檢測器，以提高通量并消除陰影效應(yīng)。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術(shù)的蕞佳定位。由于Prisma E的現(xiàn)場能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結(jié)果。
用于光子學(xué)，地球科學(xué)，陶瓷，玻璃和故障分析應(yīng)用的其他樣品信息來自*的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測器。
元素表征
需要將成像與元素表征（SEM + EDX）進(jìn)行強(qiáng)大結(jié)合的研究人員將受益于帶有Thermo Scientific Pathfinder軟件的Thermo Scientific UltraDry檢測器。作為標(biāo)準(zhǔn)配置，UltraDry軟件包具有峰反卷積功能，可進(jìn)行快速，準(zhǔn)確的定量元素圖分析，自動漂移補(bǔ)償以及用于離線分析和處理的無限站點(diǎn)許可證。
通過高級自動化輕松使用
對于需要為大量用戶提供少培訓(xùn)時間的實(shí)驗(yàn)室，易用性至關(guān)重要。Prisma E帶有Windows 10上經(jīng)過驗(yàn)證的*一代xT用戶界面，其中包括用戶指南-一種直接與顯微鏡交互的幫助功能。它還包括“撤消/重做”功能，鼓勵新手用戶安心地進(jìn)行試驗(yàn)，而專家用戶可以輕松地縮短獲得結(jié)果的時間。Prisma E支持掃描預(yù)設(shè)，列預(yù)設(shè)和SmartSCAN，以進(jìn)一步提高生產(chǎn)力，數(shù)據(jù)質(zhì)量和易用性。對于重復(fù)性工作或高級實(shí)驗(yàn)，Prisma E可以通過功能強(qiáng)大的基于Python的腳本編寫工具Autoscript實(shí)現(xiàn)自動化。
美國賽默飛FEI掃描電子顯微鏡SEM
