提籃式高低溫沖擊試驗設備主要技術指標:
溫度范圍:高溫箱: +60℃~200℃;低溫箱: 0℃~-70℃;
溫度波動度:±0.5℃;
溫度均勻:±2℃;
升溫速率:≤5℃/min; (全程平均)
降溫速率:≤5℃/min;; (全程平均)
預冷下限溫度:≤-70℃;
沖擊溫度:+150~-60℃;
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復時間: 5min;
樣品架轉換時間:≤8s;
沖擊方式:上下移動提籃式或翻板式
電源:380V±10﹪ 50H
提籃式高低溫沖擊試驗設備用途
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè),工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質,從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具."
為了保證試驗箱降溫速率和Z低溫度的要求,本試驗箱采用一套“泰康”全封閉壓縮機所組成的二元復疊式風冷制冷系統(tǒng)。復疊制冷系統(tǒng)包含一個高溫制冷循環(huán)和一個低溫制冷循環(huán); 原裝液晶顯示觸控式瑩幕直接按鍵型控制器,中文表示的圖形之廣視角,高對比附可調背光功能之大型LCD液晶顯示控制器
設備滿足以下標準:
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗