半導體冷熱沖擊試驗箱冷熱交換測試
使用安全信息:
1.請勿將試品電源接入設備電源中,否則會增加設備電源負荷。除非設備留有試品電源接口。
2.嚴禁試驗易燃、易爆、高腐蝕、強輻射物品。
3.設備通電狀態(tài)下或運行過程中請勿搬運、檢修。
1、高溫燙傷,冷熱沖擊試驗箱在做高溫試驗時箱內溫度很高。試驗過程中或測試剛結束時,如需打開箱,開門要特別小心,切記,順著們開啟的方向行走,以免燙傷。
2、低溫凍傷,冷熱沖擊試驗箱在做低溫試驗時箱內溫度很低。試驗過程中或試驗剛結束時,如需打開箱門要特別小心,以免凍傷。
3、高溫燙傷,冷熱沖擊試驗箱在做高溫試驗時箱內溫度很高。試驗過程中或試驗剛結束時,如需打開箱門要特別小心,以免燙傷。
4、觸電,雖然設備具有健全的防觸電措施,但是仍然需要注意,尤其是電器控制系統(tǒng),工作情況下,切勿觸摸電器部分。
半導體冷熱沖擊試驗箱冷熱交換測試
標準滿足:
GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法
GB-T10592-2008高低溫箱技術條件
GJB150.3-1986設備環(huán)境試驗方法:高溫試驗
GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求
場地
(1)本設備使用過程中會產生大量熱量。請將設備按照在通風良好的地方。
(2)請勿靠近易燃材料或易爆環(huán)境中使用本設備。
(3)請勿在強磁場和強烈振動環(huán)境中使用。