一、產(chǎn)品簡介:
高溫型雷達(dá)物位計(jì)測量儀表,測量zui大距離可達(dá)70米。天線被進(jìn)一步優(yōu)化處理,新型快速的微處理器可以進(jìn)行更高速率的信號分析處理,使得儀表可以用于反應(yīng)釜、固體料倉等一些復(fù)雜的測量條件。
二、高溫型雷達(dá)物位計(jì)產(chǎn)品特點(diǎn):
1、天線尺寸小,便于安裝;非接觸雷達(dá),無磨損,無污染。
2、幾乎不受腐蝕、泡沫影響;幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。
3、嚴(yán)重粉塵環(huán)境對高頻物位計(jì)工作影響不大。
4、波長更短,對在傾斜的固體表面有更好的反射。
5、波束角小,能量集中,增強(qiáng)了回波能力的同時(shí)又有利于避開干擾物。
6、測量盲區(qū)更小,對于小罐測量也會(huì)取得良好的效果。
7、高信噪比,即使在波動(dòng)的情況下也能獲得更優(yōu)的性能。
8、高頻率,是測量固體和低介電常數(shù)介質(zhì)的選擇。
三、高溫型雷達(dá)物位計(jì)技術(shù)參數(shù):
1、過程連接:G11/2螺紋或11/2NPT螺紋
2、介質(zhì)溫度:-40-120℃
3、過程壓力:-0.1~0.3Mpa
4、精 度:±10mm
5、重復(fù)性:±2mm
6、頻率范圍:6.8GHz
7、防爆等級:Exia IIC T6 Gb
8、防護(hù)等級:IP67
9、信 號 輸 出:4—20mA/HART
四、測量范圍說明:
1. 頂部盲區(qū)是指物料zui高料面與測量參考點(diǎn)之間的zui小距離。
2. 底部盲區(qū)是指纜繩zui底部附近無法精確測量的一段距離。
3. 頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意:只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時(shí),才能保證罐內(nèi)物位的可靠測量。