工作原理：
局部放電測試原理是高頻脈沖電流測量法(即ERA法)。
試品Ca在試驗電壓下產(chǎn)生局部放電時，放電脈沖信號經(jīng)耦合電容Ca 送入輸入單元，由輸入單元拾取得脈沖信號，經(jīng)低噪聲前置放大器放大，濾波放大器選擇所需頻帶及主放大器放大(達到所需幅值與產(chǎn)生零標(biāo)志脈沖)后，在示波屏的橢圓掃描基線上產(chǎn)生可見的放電脈沖，同時也送至脈沖峰值表顯示其峰值。
時間窗單元控制試驗電壓每一周內(nèi)脈沖峰值表的工作時間，并在這段工作時間內(nèi)將示波屏的相應(yīng)顯示區(qū)加亮，用它可以排除固定相位的干擾。
試驗電壓表經(jīng)電容分壓器產(chǎn)生試驗電壓過零標(biāo)志訊號，可在示波屏上顯示零標(biāo)脈沖，試驗電壓大小由數(shù)字電壓表指示。
成套裝置：
1. 輸入阻抗
1~12號任選，7R號測長電纜用。
2. 視在放電量器校準(zhǔn)器（JZF－10校正電量發(fā)生器，局放儀校正脈沖發(fā)生器）任選。
3. LB系列工頻、中頻濾波器
4. SBP系列三倍頻感應(yīng)試驗設(shè)備
5. 無局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任選。
6. 無局放耦合電容系列
7. YDTW無局放試驗變壓器系列
8. 工頻試驗控制臺
名詞術(shù)語：
揚州局部放電檢測儀供應(yīng)！
1． 局部放電
局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極*）。
2． 電荷量q
在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。
3． 視在放電量校準(zhǔn)器
視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應(yīng)，此時調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。
校正電量發(fā)生器是測量局部放電時*的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時間、衰減時間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。
校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。
4．檢測阻抗
檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。
檢測阻抗按調(diào)諧電容范圍分1～12號。（見表1）
5．時間窗(門單元)
時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進入峰值檢波電路而設(shè)計的一種電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現(xiàn)場做試驗時，不可避免地會引入一些干擾，所以，時間窗的使用更顯得重要。
時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過改變時間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域)，此時儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時兩個時間窗同時關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個橢圓上脈沖之峰值。
技術(shù)參數(shù)：
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1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF
2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。
3．橢圓掃描時基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)120度。
(3) 工作方式：標(biāo)準(zhǔn)－擴展－直線。
(4) 高頻時基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差10倍±5%。
(4) 細調(diào)范圍：＞10倍。
(5) 正、負脈沖響應(yīng)不對稱性：＜5%。
6．時間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個時間窗可分別或同時控制。
脈沖峰值表
(1) 線性指示：0~10*不大于5%。
對數(shù)指示：1~10*不大于5%。
表1 檢測靈敏度及輸入單元允許電流值
輸入單元序號
調(diào)電容范圍
靈敏度(PC)
(不平衡電路)
允許電流有效值
不平衡電路
平衡電路
注意事項：
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1. 在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2．對于連接線應(yīng)避免將*暴露在外，防止*電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗，必要時要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下，在試驗過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時局部放電量都比正常值大很多，此時儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時針旋轉(zhuǎn)時，每降一檔量程擴大十倍；反之，順時針時，量程縮小十倍。
5. 試驗完畢后，應(yīng)對整個測試系統(tǒng)再進行一次復(fù)查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。
操作說明：
（一）試驗準(zhǔn)備
120×1000
120+1000
1． 根據(jù)試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯(lián)的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測阻抗為有 ≈107，查表1可取2號單元。
輸入單元應(yīng)盡量靠近試品，輸入單元經(jīng)8米長的測量電纜與放大器輸入插座相連。
接觸不良
這種干擾源如圖1所示。其特點是干擾波位于橢圓時基的零點附近。在正負半波上對稱出現(xiàn)，幅值相差不大。干擾在低電壓時即出現(xiàn)。電壓增大時，干擾占位區(qū)域也增大，由于疊加效果幅值增大較慢。有時在電壓達到某一定數(shù)值后會*消失。
造成這種干擾的原因有：試驗回路中金屬對金屬接觸不良，塑料電線半導(dǎo)電屏蔽層中粒子間接觸不良，電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸不良等。
（2）浮動電位物體
波形見圖2，特別是在電壓峰值之前的正負半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等。由于余輝，有時成對的出現(xiàn)，有時圖像有飄動。電壓增加時，根數(shù)增加，間隙縮小，中間值不變。有時電壓增加到一定值后干擾信號會消失，再降低電壓時，又會重新出現(xiàn)。
起因：金屬或碳質(zhì)導(dǎo)體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測試回路中。在兩個孤立的導(dǎo)電物之間，例如地面上處于浮動電位的多種物體間發(fā)生。
（3）外部*電暈
波形如圖3，特別是僅在試驗電壓的一個半波中出現(xiàn)，位于外施電壓的峰值部分，等幅值，等間距。電壓增加時，放電訊號波的根數(shù)增加，但幅值總不變。
起因：高壓電極的*或邊緣對空氣中的放電。若干擾訊號位于橢圓時基的負關(guān)周，則*電暈處于高電壓下，若干擾訊號位于時基橢圓的正半周，則*在接地部分，有時也可能高壓、接地部分都有*電暈放電，則時基橢圓的正負半周就出現(xiàn)兩組訊號。
（4）液體介質(zhì)中的*放電
波形見圖4，特別：在試驗電壓正負半周峰值位置均有一組訊號，同一組訊號等幅值，等間隔，一組中間值較大的訊號先出現(xiàn)，隨電壓增加值也增大。一組中間值小的訊號其幅值不隨電壓變化。
起因：在絕緣液體中發(fā)生了*或邊緣電暈放電?；蛞唤M大的訊號出現(xiàn)在正半周，則*位于高壓部分；若它出現(xiàn)在負半周，則*處于接地部分。
（5）繼電器，接觸器的動作
干擾訊號波形見圖5，特點：在時基橢圓上干擾訊號波形分布不規(guī)則，間隙地出現(xiàn)，且同試驗電壓大小無關(guān)。
起因：閃光燈，熱繼電器，接觸器和各種火花試驗器或有火花放電的記錄器動作時造成。
（6）可控硅元件
干擾訊號波形見圖6，特點：干擾訊號在時基橢圓上之位置固定，每一元件產(chǎn)生一個獨立的高頻脈沖訊號。電路接通，電磁耦合效應(yīng)增強時，訊號幅值增加，也可能發(fā)生波形展寬、相移，從而在時基上占位增加。
起因：供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。
（7）異步電機
干擾波形見圖7。特點：在時基橢圓上正負半周波形出現(xiàn)對稱的二組訊號，且沿掃描時基逆時針方向移動。
起因：異步電機運行時產(chǎn)生的干擾訊號耦合到檢測回路中來。
（8）螢光燈
干擾波形見圖8。特點：在橢圓時基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖，并伴有正負半波時對稱出現(xiàn)的二簇脈沖組。
（9）電動機
干擾波形見圖9。特點：沿橢圓時基均布，等幅值每一個單個訊號或“山”字形。
起因：帶換向器的電動機如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運轉(zhuǎn)時所發(fā)出的干擾訊號。
（10）無線電干擾
干擾波形見圖10，特點：沿整個時基橢圓分布的幅值有調(diào)制的高頻正弦波。
起因：高頻電力放大器，無線、廣播話筒等。
（11）中高頻工業(yè)設(shè)備
干擾波形見圖11。特點：訊號在時基橢圓上連續(xù)發(fā)生，但僅在半周內(nèi)出現(xiàn)。
起因：感應(yīng)加熱裝置及頻率接近局部放電檢測頻率的超聲波發(fā)生器等。
（12）磁飽和產(chǎn)生的諧波
干擾波形見圖12。特點：在時基橢圓正負半波上對稱出現(xiàn)一對諧波振蕩訊號，訊號幅值隨電壓增加而增加，電壓除去，訊號消失。訊號穩(wěn)定，能重復(fù)再現(xiàn)。
起因：試驗系統(tǒng)中鐵芯設(shè)備（試驗變壓器，并聯(lián)或串聯(lián)電抗器，濾波電抗器，匹配變壓器，調(diào)壓變壓器）磁飽和時產(chǎn)生的諧振訊號。
（13）電極在電場方向運動
干擾波形見圖13。特點：僅在時基橢圓的半周中出現(xiàn)二個訊號脈沖，它們相對于峰值點對稱分布。起始點該二訊號很靠近，隨電壓增大，二者逐漸分開，且有可能產(chǎn)生新的訊號脈沖對。
起因：電極（尤其是金屬箔電極）在電場作用下運動。
（14）介質(zhì)表面放電
干擾訊號波形見圖14。特點：放電訊號出現(xiàn)在試驗電壓峰值之前。正負半周中都有，而且幅值基本相等。訊號幅值和位置有隨機性變化。開始時，放電訊號是可分辨 的，到一定電壓值后便難以分辨。
起因：二個接觸的絕緣導(dǎo)體之間介質(zhì)表面上的，或介質(zhì)表面上切向場強較高的區(qū)域發(fā)生放電。
（15）漏電痕跡和樹枝
波形特點：訊號與一般典型的圖像不符合，波形呈不規(guī)則，不確定的圖像，與電壓有關(guān)。
起因：臟污絕緣中泄漏，絕緣局部過熱致的碳痕跡或電樹枝足道等。
