X熒光硅鋁分析儀是采用X射線激發(fā)樣品，檢測所生產(chǎn)的二次特征X射
線，即可以獲得硅鋁定性和定量分析結(jié)果。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于冶金、采礦、建材等工業(yè)中。
用于水泥廠中，主要測量生料、熟料中的SiO2、Al2O3的百分含量。
X熒光硅鋁分析儀
主要特點
1、微機化集成為一體，結(jié)構(gòu)緊湊，外形美觀。
2、大屏幕液晶顯示，全中文菜單提示操作，使用極為方便。
3、分析時間短，1分鐘即能測出SiO2%、Al2O3%。
4、儀器檢測時不破壞樣品，樣品可重復(fù)使用。
5、不用任何化學試劑、無三廢排放，不含放射源、低耗電
6、數(shù)據(jù)存儲量大，含量結(jié)果、儀器自檢數(shù)據(jù)都可查詢，避免了打印耗材。
技術(shù)指標
1、分析范圍: SiO2、Al2O30.01%～
2、分析精度：標準偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析寬度: SiO2(Al2O3)max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通過標定工作曲線選定。
技術(shù)指標
1、分析范圍: SiO2、Al2O30.01%～
2、分析精度：標準偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析寬度: SiO2(Al2O3)max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通過標定工作曲線選定。
