產(chǎn)品綜述
AV6362C近紅外光譜儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術(shù)研制而成。整機(jī)性能指標(biāo)達(dá)到同類產(chǎn)品*水平。適用于600~1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學(xué)濾波器、光纖放大器、波分復(fù)用器等光電子元器件及有關(guān)系統(tǒng)的測試。
功能特點
主要特點
● 0.05nmzui小分辨帶寬
● -90 dBm電平測量靈敏度
● ndB損耗分析
● 包絡(luò)分析
● 測試數(shù)據(jù)存儲輸出
● 激光光源測試
● 光學(xué)濾波器測試
0.05nmzui小分辨帶寬
AV6362C近紅外光譜儀支持不同光譜分辨帶寬的設(shè)置,寬譜光源與窄譜線光源測試靈活切換。并且zui小分辨帶寬可達(dá)0.05nm。
-90 dBm電平測量靈敏度
通過低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù),*地降低了儀器噪聲,提高了信噪比,電平測量靈敏度在1250nm~1600nm波段優(yōu)于-90dBm。
ndB損耗分析
產(chǎn)品具有強(qiáng)大的分析功能,快速分析光譜參數(shù),儀器自身就能完成復(fù)雜的計算。分析功能包括波峰檢索、閾值分析、損耗分析、邊模分析、包絡(luò)分析、均方根和光功率分析等,滿足您的全部需求。
包絡(luò)分析
測試數(shù)據(jù)存儲輸出
光譜測試數(shù)據(jù)可用.bmp或.osd格式文件存儲和輸出。
激光光源測試
儀器可以對多類型激光器進(jìn)行一鍵測試與分析,實現(xiàn)所有測試項目批處理。