皓天50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱
直接生產(chǎn)廠家是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備， 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
皓天50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。
皓天50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào)：TSD-50F-2P
內(nèi)箱尺寸：W400*H350*D350MM
外箱尺寸：W1250*H1450*D1320MM
性能指標(biāo)
溫度沖擊范圍 | （+60℃-+150℃）-（-40℃-10℃） |
溫度波動(dòng) | 高溫室與低溫室均≤±2℃ |
樣品區(qū)溫度波動(dòng) | ≤±0.5℃(恒溫時(shí)) |
樣品區(qū)承重 | 500㎏、545㎏、700㎏
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冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分， 各區(qū)之箱體采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，做冷熱沖擊測(cè)試。高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，zui大時(shí)間可達(dá)9999分鐘，zui大循環(huán)周期可達(dá)9999次。系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種?？蛇B接電腦，記錄儀僅為選購(gòu)件。采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡(jiǎn)易。
150L高低溫沖擊試驗(yàn)箱現(xiàn)貨
三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是以待測(cè)物品不動(dòng)之方式來(lái)測(cè)試因高低溫急速變化而對(duì)產(chǎn)品是否造成不良的影響.一般用于電子部品、汽車(chē)零件及高科技產(chǎn)品等;需要苛刻的環(huán)境條件測(cè)試及高信耐性需求的檢驗(yàn)。
技術(shù)規(guī)格
1. 高低溫沖擊試驗(yàn)箱控制器:*LCD液晶顯示觸摸屏控制器;
2.工作槽溫度范圍:(A:-45)，(B:-55)，(D:-65)~150℃;
3.溫度恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi);
4.高度槽溫度:60℃ - 200℃;
5. 高低溫沖擊試驗(yàn)箱低溫槽溫度:(A:-65)，(B:-70)，(D:-80)~-10℃;
6. 高低溫沖擊試驗(yàn)箱高低溫曝露時(shí)間:30分鐘
7.內(nèi)箱材質(zhì)：不銹鋼304SUS
8.外箱材質(zhì):霧面線條處理不銹鋼SUS304;
9.壓縮機(jī):法國(guó)*全密式壓縮機(jī)
10.電源:AC380V±10%50HZ 三相四線+保護(hù)地線。
操作流程
一般來(lái)說(shuō)，高低溫沖擊試驗(yàn)箱操作分為五部走:預(yù)處理、初始檢測(cè)、試驗(yàn)、恢復(fù)、zui后檢測(cè)。下面詳細(xì)流程內(nèi)容:
1.預(yù)處理:將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2.初始檢測(cè):將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)即可。
3.試驗(yàn):
1)試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。
4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。
4. 恢復(fù):試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.zui后檢測(cè):對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。
