顆粒物采樣器PARTECTOR TEM

使電子顯微鏡的取樣顆粒變得更容易

一、顆粒物采樣器-優(yōu)點：

Naneos partector TEM采樣器是簡單性與功耗之間的*結合：您可以將其用作簡單的調(diào)查工具，以快速識別工作場所中的納米粒子源。 您也可以使用它來直接對標準透射電子顯微鏡（TEM）網(wǎng)格進行顆粒采樣。 TEM是單粒子分析中強大的分析技術。顆粒取樣器TEM可以讓您僅僅使用一臺儀器就能全面評估工作場所安全。顆粒取樣器TEM是*可以在線確定樣本覆蓋范圍的納米粒子采樣器，并在達到佳覆蓋范圍時停止采樣。你永遠不會有空的或重載的樣品。

與傳統(tǒng)納米粒子取樣器相比，顆粒取樣器TEM的6個主要優(yōu)點是：

-微型和輕量級；

-易于使用的按鈕式采樣；

-綜合測量，先調(diào)查，必要時直接抽樣；

-TEM網(wǎng)格可以在6個網(wǎng)格支架上輕松地進行現(xiàn)場交換；

-自動確定采樣時間- 因為它測量納米顆粒濃度，所以知道何時停止采樣；

-在線顯示當前樣品的覆蓋范圍；

二、顆粒物采樣器-規(guī)格：

-時間分辨率為1秒的LDSA測量（內(nèi)部儀器時間常數(shù)4秒;根據(jù)要求能更快）；

-濃度范圍，從1-20'000 um2/cm3；

-粒徑范圍廣泛，從10納米到10微米不等；

-尺寸：142x78x29mm；

-重量：430克；

-標準3.05mm TEM網(wǎng)格上的靜電沉積顆粒；

-流速：0.45 lpm；

-采樣效率：在50nm時約為3％；

-可更換的電網(wǎng)持有人；

-自動確定采樣時間，設備在網(wǎng)格覆蓋時停止采樣；

-內(nèi)部可充電鋰離子電池；

-數(shù)據(jù)存儲在一個μ卡（足夠的空間儲存多年的數(shù)據(jù)）；

-圖形顯示；

-可調(diào)節(jié)的高濃度警報；

-包含在所有主要操作系統(tǒng)上運行Java數(shù)據(jù)的分析工具；

三、顆粒物采樣器-配件：

-顆粒取樣器TEM形成一個堅固的運輸箱，包含所有必要的配件：

-防護氯丁橡膠套- 保護儀器免受污垢，水和沖擊，并包含一個皮帶環(huán)，將其連接到皮帶以便進行個人監(jiān)測；

-Micro-SD卡到USB適配器 - 輕松從取樣器的集成micro-SD卡讀取數(shù)據(jù)；

-USB充電器 - 一個獨立的USB充電器，為分配器充電或無限期地24/7運行；

-6個TEM格架可以在實驗室預先加載，并在現(xiàn)場進行交換；

-鑷子；

-TEM網(wǎng)格框；