TAP2500低壓?jiǎn)味颂筋^
特性和優(yōu)點(diǎn)
?出色的電子性能
o高探頭帶寬
o快速探頭上升時(shí)間
o出色的信號(hào)保真度
o≤0.8 pF 輸入電容
o40 k? 輸入電阻
o-4 V 至 +4 V 輸入動(dòng)態(tài)范圍
o-10 V 至 +10 VDC 輸入偏置范圍
o±30 V（直流 + 峰值交流）zui大輸入電壓（非破壞）
TAP2500低壓?jiǎn)味颂筋^
特性和優(yōu)點(diǎn)
- 出色的電子性能
- 高探頭帶寬
- 快速探頭上升時(shí)間
- 出色的信號(hào)保真度
- ≤0.8 pF 輸入電容
- 40 k? 輸入電阻
- -4 V 至 +4 V 輸入動(dòng)態(tài)范圍
- -10 V 至 +10 VDC 輸入偏置范圍
- ±30 V（直流 + 峰值交流）zui大輸入電壓（非破壞）
- 全面的機(jī)械性能
- 用于探測(cè)小型幾何電路元件的緊湊型探頭頭部
- 可使用 DUT 附屬附件連接到小至 0.5 毫米針腳的 SMD
- 強(qiáng)大的可靠性設(shè)計(jì)
- 易用
- 直接連接到具有 TekVPI™ 探頭接口的示波器
- 在示波器畫(huà)面上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)單位縮放和讀數(shù)
- 輕松訪(fǎng)問(wèn)示波器探頭菜單畫(huà)面以了解探頭狀態(tài)/診斷信息和控制探頭直流偏置
- 通過(guò)示波器實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程 GPIB/USB 探頭控制
應(yīng)用
- 高速設(shè)計(jì)的驗(yàn)證、調(diào)試和檢定
- 信號(hào)完整性、抖動(dòng)和定時(shí)分析
- 制造工程和測(cè)試
- 信號(hào)的電壓擺幅高達(dá) 8 Vpk-pk
為應(yīng)用選擇合適的探頭是在測(cè)量中取得信號(hào)保真度的關(guān)鍵。有源探頭為高頻測(cè)量提供了更真實(shí)的信號(hào)復(fù)制和保真度。通過(guò)超低輸入電容和*的接口，TAP2500 和 TAP3500 單端有源 FET 探頭提供了當(dāng)今數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)所需要的高速電子和機(jī)械性能。
TAP2500 和 TAP3500 有源 FET 探頭經(jīng)過(guò)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)，可使用并直接連接到帶有 TekVPI™ 探頭接口的示波器，通過(guò)解決以下三個(gè)傳統(tǒng)問(wèn)題來(lái)實(shí)現(xiàn)高速信號(hào)采集和測(cè)量保真度：
- 通過(guò) ≤0.8 pF 輸入電容和 40 k? 輸入阻抗降低 DUT 負(fù)載效應(yīng)
- 利用多功能 DUT 連接可連接到小型 SMD
- 在探頭端部為高達(dá) 3.5 GHz 的示波器保留儀器帶寬
