E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器
E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),專門用于鍍層厚度檢測;其核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機(jī)構(gòu)報告;精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器,特別針對大件異形不平整樣品,無需拆分,直接測試即可達(dá)到精確的測試效果。
E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器
產(chǎn)品特點:
● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線
● 輻射標(biāo)志警示
● 儀器經(jīng)第三方檢測,X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》
E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器
硬件技術(shù)
● X射線下照式,激光對焦可調(diào)樣品倉,對于異形不平整樣品,無需拆分打磨,可直接測試
● 模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對分析元素的影響,提高元素分辨率
● 小光斑0.2mm,可針對各種樣品中的小測試點精確定位,避免材質(zhì)干擾,測量結(jié)果更準(zhǔn)確
● 空氣動力學(xué)設(shè)計,加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;設(shè)計
● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測試標(biāo)準(zhǔn)
軟件技術(shù)
● 分析元素:Na~U之間元素
● 分析時間:90秒
● 界面簡潔,模塊化設(shè)計,功能清晰,易操作
● 數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原、一鍵清理功能,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全
● 根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試精準(zhǔn)度
● 配備開放式分析模型功能,客戶可自行建立自己的工作模型。
E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器
產(chǎn)品規(guī)格:
●外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (長x寬x高)
●樣品倉尺寸:360mm×400mm x160(長x寬x高,高度可定制)
●儀器重量:50kg
●供電電源:AC220V/ 50Hz
●大功率:330W
●工作溫度:15-30℃
●相對濕度:≤85%,不結(jié)露
配件配置:
探測器
● 類型:X123探測器(*高性能電致冷半導(dǎo)體探測器)
● Be窗厚度:1mil
● 晶體面積:25mm2
● jia分辨率:145eV
●信號處理系統(tǒng):DP5
E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器
X射線管
●電壓:0-50v
●大電流;2mA
●大功率:50W
●靶材:Mo
●Be窗厚度:0.2mm
●使用壽命:大于2w小時
高壓電源
●輸出電壓:0-50Kv
●燈絲電流0-2mA
●大功率:50w
●紋波系數(shù):0.1%(p-p值)
●8小時穩(wěn)定性:0.05%
攝像頭
●焦距:微焦距
●驅(qū)動:免驅(qū)動
●像素:500萬像素
準(zhǔn)直器、濾光片
●系統(tǒng):快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)
●材質(zhì):多種材質(zhì)準(zhǔn)直器
●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選
十字激光頭
●光斑形狀:十字線
●輸出波長:紅光650nm
●光學(xué)透鏡:玻璃透鏡
●尺寸:Φ10×30mm
●發(fā)散角度:0.1-2mrad
●工作電壓:DC 5V
●輸出功率:<5mW
●工作溫度:-10~50℃
其它配件
●開關(guān)電源:進(jìn)口高性能開關(guān)電源
●散熱風(fēng)扇:進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇