奧林巴斯日本45MG測(cè)厚儀全國(guó)*
45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器,可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。
45MG儀器在使用基本配置時(shí),是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀,操作人員經(jīng)過(guò)zui基本的培訓(xùn),就可完成zui常用的測(cè)厚應(yīng)用。不過(guò),45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后,就會(huì)變成一款極為高級(jí)的測(cè)厚儀,可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外,大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買儀器時(shí)分別購(gòu)買,或在日后需要時(shí)購(gòu)買。
45MG超聲波測(cè)厚儀測(cè)量詳細(xì)介紹:
雙晶探頭測(cè)量模式 從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。
自動(dòng)回波到回波(可選) 在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔,不計(jì)漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測(cè)量 (可選) 利用單個(gè)底面回波,測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭)
單晶探頭測(cè)量模式(可選) 模式1:激勵(lì)脈沖與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。
模式2:延遲塊回波與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭)
模式3:在激勵(lì)脈沖之后,位于*個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。
厚度范圍 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測(cè)量zui全的范圍需要使用單晶選項(xiàng))
材料聲速范圍 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)
分辨率(可選擇) 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸)
標(biāo)準(zhǔn)分辨率:0.01毫米(0.001英寸)
單晶選項(xiàng):0.001毫米(0.0001英寸)
探頭頻率范圍 標(biāo)準(zhǔn):2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項(xiàng)):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
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