圖為儀器研發(fā)的智能電能表負(fù)荷開(kāi)關(guān)檢測(cè)試驗(yàn)裝置（閉合操作電壓試驗(yàn)、斷開(kāi)操作電壓試驗(yàn)、閉合時(shí)間試驗(yàn)、斷開(kāi)時(shí)間試驗(yàn)、接觸電阻試驗(yàn)、短路電流承載能力試驗(yàn)、故障電流承載能力試驗(yàn)、過(guò)負(fù)載耐受能力試驗(yàn)、沖擊耐壓)滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):Q/GDW 11179.8-2015電能表用元件器件技術(shù)規(guī)范——第8部分：負(fù)荷開(kāi)關(guān)
1.閉合操作電壓試驗(yàn):
閉合操作電壓不高于控制電路額定電壓值的 70%，不低于控制電路額定電壓值的 30%。
負(fù)荷開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)位置，對(duì)負(fù)荷開(kāi)關(guān)控制電路施加階躍的 20%控制電路額定電壓值，按照一定的步長(zhǎng)增加電壓，直至負(fù)荷開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換到閉合位置，則此電壓值即為負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合操作電壓，應(yīng)滿(mǎn)足 5.2.2的要求。每個(gè)電壓等級(jí)步長(zhǎng)宜為 0.1V，持續(xù)時(shí)間應(yīng)大于負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合時(shí)間。
裝置輸出電壓：0~300.0V連續(xù)可調(diào)，分辨率0.1V，自動(dòng)升壓。
2.斷開(kāi)操作電壓試驗(yàn):
閉合操作電壓不應(yīng)高于控制電路額定電壓值的 70%，不應(yīng)低于控制電路額定電壓值的 30%。
負(fù)荷開(kāi)關(guān)處于斷開(kāi)位置，對(duì)負(fù)荷開(kāi)關(guān)控制電路施加階躍的 20%控制電路額定電壓值，按照一定的步長(zhǎng)增加電壓，直至負(fù)荷開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換到閉合位置，則此電壓值即為負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合操作電壓，應(yīng)滿(mǎn)足 5.2.2的要求。每個(gè)電壓等級(jí)步長(zhǎng)宜為 0.1V，持續(xù)時(shí)間應(yīng)大于負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合時(shí)間。
裝置輸出電壓：0~300.0V連續(xù)可調(diào)，分辨率0.1V，自動(dòng)降壓。
3.閉合時(shí)間試驗(yàn)：
單相電磁式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 20ms，三相電磁式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 30ms；單相電機(jī)式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 90ms，三相電機(jī)式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的閉合時(shí)間應(yīng)小于 100ms。
對(duì)處于斷開(kāi)位置的負(fù)荷開(kāi)關(guān)，對(duì)線(xiàn)圈施加額定電壓，測(cè)量負(fù)荷開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)從施加額定電壓的瞬間到觸點(diǎn)可靠動(dòng)作為止的時(shí)間，應(yīng)滿(mǎn)足 5.2.5 的要求；
閉合測(cè)量時(shí)間：0~9999ms,分辨率1ms
4.斷開(kāi)時(shí)間試驗(yàn)：
單相電磁式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)時(shí)間應(yīng)小于 20ms；三相電磁式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)時(shí)間應(yīng)小于 30ms；單相電機(jī)式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)時(shí)間應(yīng)小于 90ms，三相電機(jī)式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的斷開(kāi)時(shí)間應(yīng)小于 100ms。
對(duì)處于閉合位置的負(fù)荷開(kāi)關(guān)，對(duì)線(xiàn)圈施加額定電壓，測(cè)量負(fù)荷開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)從施加額定電壓的瞬間到觸點(diǎn)分?jǐn)酁橹沟臅r(shí)間，應(yīng)滿(mǎn)足 5.2.5 的要求;
斷開(kāi)測(cè)量時(shí)間：0~9999ms,分辨率1ms
5.接觸電阻試驗(yàn)：
電磁式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的接觸電阻應(yīng)小于 1.5m?；電機(jī)式負(fù)荷開(kāi)關(guān)的接觸電阻應(yīng)小于 1.0m?。
按照 GB/T 14598.1—2002 的試驗(yàn)方法，對(duì)負(fù)荷開(kāi)關(guān)的主電路施加額定電流，在 10s 內(nèi)測(cè)量負(fù)荷開(kāi)關(guān)的主電路引出端處的接觸壓降，根據(jù)歐姆定律計(jì)算觸點(diǎn)的接觸電阻。測(cè)量接觸壓降的位置應(yīng)不大于主電路引出端根部 5mm 的距離。
接觸電阻應(yīng)滿(mǎn)足 5.2.6 的要求。
：陳銘 客戶(hù) ：
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圖為儀器同時(shí)還生產(chǎn)：低壓計(jì)量箱耐扭力和靜載測(cè)試裝置、低壓計(jì)量箱耐撞擊試驗(yàn)裝置、IK撞擊試驗(yàn)裝置、低壓計(jì)量箱沖擊試驗(yàn)機(jī)、低壓配電箱柜撞沖擊試驗(yàn)裝置、外置斷路器壽命測(cè)試裝置，外置斷路器壽命測(cè)試臺(tái)、智能型剩余電流保護(hù)器檢測(cè)平臺(tái)、智能電能表插拔力試驗(yàn)臺(tái)、智能電能表溫升測(cè)試臺(tái)、塑殼斷路器脫扣特性測(cè)試臺(tái)、塑殼斷路器瞬時(shí)延時(shí)脫扣特性測(cè)試臺(tái)、TW-VH-D斷路器終檢臺(tái)、高壓斷路器磨合測(cè)試臺(tái)、高壓斷路器回路電阻測(cè)試儀、斷路器高低壓動(dòng)作測(cè)試臺(tái)、接觸器繼電器耐久試驗(yàn)臺(tái)、 繼電器接觸器可靠性壽命測(cè)試臺(tái)、隔離器,隔離開(kāi)關(guān)及高低壓熔斷器特性測(cè)試臺(tái)、高壓真空斷路器綜合特性測(cè)試臺(tái)（導(dǎo)電回路的電阻、交流耐壓、斷路器的分合閘時(shí)間、斷路器主觸頭分合閘的同期性、斷路器合閘時(shí)觸頭的彈跳時(shí)間、分合閘線(xiàn)圈及合閘接觸器線(xiàn)圈直流電阻和絕緣、開(kāi)關(guān),隔離器,隔離開(kāi)關(guān)及高低壓熔斷器特性測(cè)試臺(tái)、接觸器繼電器耐久試驗(yàn)臺(tái)、 繼電器接觸器可靠性壽命測(cè)試臺(tái)、熱保護(hù)器性能壽命測(cè)試裝置、壓力敏感自動(dòng)控制器性能與壽命測(cè)試裝置、斷路器機(jī)械壽命測(cè)試臺(tái)、高壓真空斷路器綜合特性測(cè)試臺(tái)、隔離開(kāi)關(guān)溫升負(fù)載壽命綜合測(cè)試臺(tái)、框架式斷路器動(dòng)作特性試驗(yàn)臺(tái)、永磁式接觸器動(dòng)作特性試驗(yàn)臺(tái)、交流接觸器超程開(kāi)距測(cè)試儀、交直流接觸器綜合特性測(cè)試臺(tái)、TW-D12K雙電源綜合特性測(cè)試臺(tái)、成套綜合測(cè)試臺(tái)高低壓開(kāi)關(guān)柜通電試驗(yàn)臺(tái)
