一。符合標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》
ASTM D257-99 《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》
GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測(cè)定》
GB/T 10581-2006《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》
GB/T 1692-2008《硫化橡膠絕緣電阻率的測(cè)定》
GB/T 12703.4-2010《紡織品 靜電性能的評(píng)定 第4部分:電阻率》
GB/T 10064-2006《測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》
二。概述。
本固體絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。固體絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。固體絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀量限從1×104Ω~1×1018 Ω,是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍寬,準(zhǔn)確度高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)。
三。主要特點(diǎn)。
固體絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高
電阻、電流雙顯示
性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便
所有測(cè)試電壓(100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀,免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩,使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流
四。技術(shù)指標(biāo)。
1、電阻測(cè)量范圍:0.01×104Ω~1×1018Ω
2、電流測(cè)量范圍為:2×10-4A~1×10-16A
3、雙表頭顯示:3.1/2位LED顯示
4、內(nèi)置測(cè)試電壓:100V、250V、500V、1000V
5、基本準(zhǔn)確度:2% (*注)
6、內(nèi)置測(cè)試電壓:10V、25V、100V、250、500、1000V
7、使用環(huán)境:溫度:0℃~40℃相對(duì)濕度<80%
8、供電形式:AC 220V,50HZ,功耗約5W
9、儀器尺寸:285mm× 245mm× 120 mm
10、質(zhì)量:約2.5KG
固體絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀術(shù)語(yǔ)
3.1 定義:
3.1.1 以下定義直接來(lái)自術(shù)語(yǔ)標(biāo)準(zhǔn)D1711,適用于本標(biāo)準(zhǔn)正文所用術(shù)語(yǔ)。
3.1.2 絕緣電導(dǎo),名詞——當(dāng)直流電壓施加到兩個(gè)電極上,兩個(gè)電極(在樣本上或樣本內(nèi))之間的總體積和表面電流的比值。
3.1.2.1 討論——絕緣電導(dǎo)是絕緣電阻的倒數(shù)。
3.1.3 表面電導(dǎo),名詞——當(dāng)直流電壓施加到兩個(gè)電極上,兩個(gè)電極(在樣本上表面)之間的電流的比值。
3.1.3.1 討論——(實(shí)際測(cè)量不可避免地要包含某些體積電導(dǎo))表面電導(dǎo)是表面電阻的倒數(shù)。
3.1.4 體積電導(dǎo),名詞——當(dāng)直流電壓施加到兩個(gè)電極上,兩個(gè)電極(在樣本上或樣本內(nèi))之間的某個(gè)樣本體積的電流的比值。
3.1.4.1 討論——體積電導(dǎo)是體積電阻的倒數(shù)。
3.1.5 表面電導(dǎo),名詞——表面電導(dǎo)率乘以樣本表面尺寸(電極之間的距離除以電極寬度定義為電流通路)的比值,該比值可變換為獲得的測(cè)量電導(dǎo),如果在正方形的反面形成電極的話。
3.1.5.1 討論——表面電導(dǎo)用西門子表示。通常用西門子/平方(平方值大小是不重要的)來(lái)表示。表面電導(dǎo)是表面電阻的倒數(shù)。
3.1.6 體積電導(dǎo),名詞——體積電導(dǎo)乘以樣本體積尺寸的比值(即電極之間距離除以電極的橫截面面積),該值可通過(guò)獲得電導(dǎo)轉(zhuǎn)化為測(cè)量電導(dǎo),如果在單位立方體的反面形成電極的話。
3.1.6.1 討論——體積電導(dǎo)通常用西門子/厘米或西門子/米來(lái)表示,也是體積電阻的倒數(shù)。
3.1.7 中等導(dǎo)電的,形容詞——描述了固體材料的體積電阻在1到10000000Ω-cm之間。
3.1.8 絕緣電阻(Ri),名詞——施加到兩個(gè)電極(樣本上或樣本內(nèi))總體積的直流電壓與電極間表面電流的比值。
3.1.8.1 討論——絕緣電阻是絕緣電導(dǎo)的倒數(shù)。
3.1.9 表面電阻(RS),名詞——施加到兩個(gè)電極(樣本表面)的直流電壓與電極間電流的比值。
3.1.9.1 討論——(在實(shí)際測(cè)量時(shí)不可避免地包含某些體積電阻)表面電阻是表面電導(dǎo)的倒數(shù)。
3.1.10 體積電阻(RV),名詞——施加到兩個(gè)電極(樣本上或里面)的直流電壓與電極間樣本體積上的電流的比值。
3.1.10.1 討論——體積電阻是體積電導(dǎo)的倒數(shù)。
3.1.11 表面電阻,(ρs),名詞——表面電阻率乘以樣本表面尺寸的比值(電極寬度定義為電流通路除以電極間的距離),該值能轉(zhuǎn)化為獲得的測(cè)量電阻,如果在正方形反面形成電極的話。
3.1.11.1 討論——表面電阻用歐姆表示。通常也可用歐姆/平方來(lái)表示(平方值大小是不重要的)。表面電阻是表面電導(dǎo)的倒數(shù)。
3.1.12 體積電阻,(ρv),名詞——體積電阻率乘以樣本體積尺寸的比值(電極間樣本的橫截面面積除以電極間的距離),該值能轉(zhuǎn)化為獲得電阻的測(cè)量電阻,如果在單位立方體的反面形成電極的話。
3.1.12.1 討論——體積電阻通常用歐姆-厘米(*)或歐姆-米來(lái)表示。體積電阻是體積電導(dǎo)的倒數(shù)。
4. 試驗(yàn)方法的摘要
材料樣本或電容器的電阻或電導(dǎo)通過(guò)在規(guī)定條件下測(cè)量電流或電壓下降而得出。通過(guò)使用合適的電極體系,可分別測(cè)量表面和體積電阻或電導(dǎo)。當(dāng)要求的樣本和電極尺寸已知時(shí),此時(shí)可以計(jì)算出電阻或電導(dǎo)。
5. 重要性和用途
a.絕緣材料用于電子系統(tǒng)彼此和與地面之間隔離,該材料能提供零部件的機(jī)械支撐。由于此用途,通常要求具有盡可能高的絕緣電阻,以與可接受的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能*。因?yàn)榻^緣電阻或電導(dǎo)組合了體積和表面電阻或電導(dǎo),當(dāng)實(shí)際使用時(shí),要求試驗(yàn)樣本和電有相同的形式,此時(shí)的測(cè)量值是非常有用的。表面電阻或電導(dǎo)隨著濕度發(fā)生快速變化,然而體積電阻或電導(dǎo)則稍微變化,盡管總的變化在一些變化可能更大。
b.電阻或電導(dǎo)可用于間接預(yù)測(cè)某些材料的低頻率電介質(zhì)擊穿和損耗因數(shù)性能。電阻或電導(dǎo)通常作為濕度含量,固化程度,機(jī)械連續(xù)性或不同類型老化的間接測(cè)量方式。這些間接測(cè)量的效用取決于通過(guò)理論或經(jīng)驗(yàn)研究確立的相關(guān)度。表面電阻的降低可導(dǎo)致因?yàn)殡妶?chǎng)強(qiáng)度降低而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的增加,或者由于應(yīng)力面積的增加而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的降低。
c.所有的電介質(zhì)電阻或電導(dǎo)都取決于電化時(shí)間長(zhǎng)短和施加的電壓值(除了普通的環(huán)境變量之外)。這些因素必須已知,同時(shí)報(bào)告,以使得電阻或電導(dǎo)測(cè)量值有意義。在電絕緣材料工業(yè)中,形容詞“表觀”通常適用于在任意選擇電化時(shí)間條件下獲得的電阻值。見(jiàn)X1.4。
d.體積電阻或電導(dǎo)可通過(guò)在特定應(yīng)用場(chǎng)合設(shè)計(jì)某個(gè)絕緣體使用的電阻和尺寸數(shù)據(jù)計(jì)算得出。研究已經(jīng)表明電阻或電導(dǎo)隨著溫度和濕度的變化而變化(1,2,3,4)4,同時(shí)在設(shè)計(jì)工作條件時(shí),必須已知這種變化。體積電阻或電導(dǎo)測(cè)量值通常用于檢查絕緣材料的均勻性,或者對(duì)于加工,可探測(cè)影響材料質(zhì)量的導(dǎo)電雜質(zhì),而這不容易通過(guò)其它方法觀察到。
e.體積電阻超過(guò)1021Ω·cm(1019Ω·cm)時(shí),樣本在普通實(shí)驗(yàn)室條件測(cè)試獲得的數(shù)值計(jì)算得出體積電阻,如果結(jié)果確實(shí)可疑,則應(yīng)考慮通常使用的測(cè)量設(shè)備的局限性。
f.表面電阻或電導(dǎo)不能精確測(cè)量,只能近似測(cè)量,因?yàn)轶w積電阻或電導(dǎo)總是受到測(cè)量方法的影響。測(cè)量值還受到表面污染的影響。表面污染及其積聚速度受到許多因素的影響,包括靜電充電和界面張力。這些因素反過(guò)來(lái)可以影響表面電阻。當(dāng)包括污染,但是在通常常識(shí)下判斷不是電絕緣材料的材料性能時(shí),此時(shí)表面電阻或電導(dǎo)可視為與材料性能相關(guān)。